GB/T 16526-1996封裝引線(xiàn)間電容和引線(xiàn)負(fù)載電容測(cè)試方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 16526-1996
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) 】 封裝引線(xiàn)間電容和引線(xiàn)負(fù)載電容測(cè)試方法  
【 英文名稱(chēng) 】 Test method measuring the lead-to-lead and loading capacitance of package leads
【 發(fā)布單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 批準(zhǔn)單位 】 國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【 發(fā)布日期 】 1996-9-9
【 實(shí)施日期 】 1997-5-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 4P
【 采用關(guān)系 】 EQV SEMI G24-89
【 起草單位 】 上海無(wú)線(xiàn)電七廠(chǎng); 西安微電子技術(shù)研究所
【 起 草 人 】 葉曾達(dá); 王先春