表面粗糙度的測(cè)量方法和測(cè)量注意事項(xiàng)

（一）表面粗糙度的測(cè)量方法有很多，主要的方法如下表所列。

測(cè)量方法	可測(cè)范圍			測(cè)量部位
	Ra值（μm）	Rz值（μm）	相當(dāng)舊國標(biāo)級(jí)
直接目測(cè)比較法 觸覺比較法 放大鏡比較法 顯微鏡比較法 光切法（光切顯微鏡） 光干涉法（干涉顯微鏡） 針描法（輪廓儀） 印模法 全息干涉法 激光光斑法 光纖法	63~2.5 10~0.63 2.5~0.32 10~0.1 16~0.16 0.08~0.01 5~0.02 ＞0.04 0.16~0.01 1.6~0.02 ＜0.25	250~10 40~3.2 10~1.6 40~0.5 63~0.8 0.4~0.03 20~0.1 ＞0.2 0.8~0.05 6.3~0.05 ＜1.25	▽1~▽5 ▽4~▽7 ▽5~▽8 ▽4~▽10 ▽3~▽9 ▽10~▽14 ▽5~▽12 ▽1~▽11 ▽9~▽13 ▽6~▽12 ▽9~	外表面 內(nèi)、外表面 外表面 外表面 外表面 外表面 內(nèi)、外表面 內(nèi)表面 平面 外表面 內(nèi)表面

（二）測(cè)量注意事項(xiàng)
1.測(cè)量方向
評(píng)定表面粗糙度的二維參數(shù)值，是在垂直于被測(cè)表面的法向截面上給出的。如圖紙或技術(shù)文件上已注明測(cè)量方向，則應(yīng)按所指定的方向進(jìn)行測(cè)量；如沒有注明，應(yīng)在能給出最大的粗糙度高參數(shù)值的方向上測(cè)量。
如被測(cè)表面的加工痕跡方向不明顯（如研磨表面）或沒有一定的方向（如某些非切削加工表面），則應(yīng)選擇幾個(gè)不同的方向測(cè)量，取測(cè)得的最大參數(shù)值作為測(cè)量結(jié)果。
2.測(cè)量部位
由于表面加工后的微觀起伏不平具有隨機(jī)性，不同部位測(cè)得的粗糙度參數(shù)值往往不相同，有時(shí)差別還很大。因此，對(duì)較重要的表面，應(yīng)在不同部位多處測(cè)量，取平均值作為測(cè)量結(jié)果。必要時(shí)，可將不同部位測(cè)得的結(jié)果都記錄下來，以便參考。
3.表面粗糙度不名括表面缺陷，如氣孔、砂眼、劃痕、擦傷等，因此在測(cè)量時(shí)應(yīng)予排除。對(duì)于表面缺陷，必要時(shí)應(yīng)另外提出要求。

樓主提到的Rz在現(xiàn)在的ISO和國標(biāo)中已經(jīng)無定義了，現(xiàn)在標(biāo)準(zhǔn)中的Rz的定義與以前的不一樣了。
大家使用以前的儀器時(shí)要特別的注意這個(gè)參數(shù)。
若想了解具體的定義，請(qǐng)留言。