SJ/T 11212-1999石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量 第6部分

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 SJ/T 11212-1999
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量 第6部分:激勵(lì)電平相關(guān)性(DLD)的測(cè)量  
【 英文名稱 】 Measurement of quartz crystal unit paramenters-Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD)
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 1999-8-26
【 實(shí)施日期 】 1999-12-1
【 開本頁(yè)數(shù) 】 16P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 SJ/Z 9154; SJ/Z 9154.1-87
【 采用關(guān)系 】 IDT IEC 444-6:1995
【 起草單位 】 電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【 起 草 人 】 鄧鶴松; 章怡; 宋佩鈺; 邊一林