SJ/T 10741-2000半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 SJ/T 10741-2000
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理  
【 英文名稱 】 Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for CMOS circuits
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 2000-12-28
【 實(shí)施日期 】 2001-3-1
【 開本頁數(shù) 】 37P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 3834-83
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 17574-98; SJ/T 10734-96
【 起草單位 】 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【 起 草 人 】 李燕榮; 孫人杰