DL/T 626-1997 盤(pán)形懸式絕緣子劣化檢測(cè)規(guī)程

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 DL/T 626-1997
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 盤(pán)形懸式絕緣子劣化檢測(cè)規(guī)程  
【 英文名稱 】 The cap and pin type insulators aging inspection rule
【 發(fā)布單位 】 CSIC-DL
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國(guó)電力工業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 1997-10-22
【 實(shí)施日期 】 1998-1-1
【 開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 6P
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 1001-1986:GB 7253-1987 etc.
【 起草單位 】 武漢高壓研究所; 湖北省超高壓輸變電局