GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法

【 標準編號 】 GJB 128A-1997
【 標準名稱 】 半導體分立器件試驗方法
【 英文名稱 】 Test methods for semicondctor discrete devices
【 發布單位 】 電子工業部
【 批準單位 】 國防科學技術工業委員會
【 發布日期 】 1997-05-23
【 實施日期 】 1997-12-01
【 開本頁數 】 254P
【 替代標準 】 GJB 128-1986
【 起草單位 】 中國電子技術標準化研究所
【 起 草 人 】 王長福等