YS/T 474-2005高純鎵化學(xué)分析方法痕量元素的測定*

【 標(biāo)準編號 】 YS/T 474-2005
【 標(biāo)準名稱 】 高純鎵化學(xué)分析方法痕量元素的測定電感耦合等離子體質(zhì)譜法  
【 英文名稱 】 Determination of trace elements in high-purity gallium-ICP-MS analytical method
【 發(fā)布單位 】 國家發(fā)展和改革委員會
【 發(fā)布日期 】 2005-5-18
【 實施日期 】 2005-12-1
【 開本頁數(shù) 】 7P
【 起草單位 】 中國鋁業(yè)股份有限公司河南分公司
【 起 草 人 】 梁倩; 王書勤; 艾蓁; 張學(xué)英; 張雨秋