淺談紅外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的傳遞

作者：  李穎文, 華中光電技術(shù)研究所,湖北,武漢,430073; 陳福勝, 華中光電技術(shù)研究所,湖北,武漢,430073; 楊長(zhǎng)城, 華中光電技術(shù)研究所,湖北,武漢,430073; 羅艷, 華中光電技術(shù)研究所,湖北,武漢,430073      
   會(huì)議名稱：  2007年紅外探測(cè)器及其在系統(tǒng)中的應(yīng)用學(xué)術(shù)交流會(huì)   
   會(huì)議地點(diǎn)：  上海   
   主辦單位：  中國(guó)宇航學(xué)會(huì)   
   摘要：  本文簡(jiǎn)述了目前紅外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)傳遞的體系,紅外標(biāo)準(zhǔn)從國(guó)家級(jí)紅外輻射計(jì)、凝固點(diǎn)黑體、傳輸標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)溫儀或者可變溫度黑體或者標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器到用戶黑體依次進(jìn)行傳遞.目前對(duì)紅外參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)的傳遞和測(cè)試設(shè)備的校準(zhǔn),集中在黑體的校準(zhǔn)、探測(cè)器響應(yīng)曲線的校準(zhǔn)、光學(xué)系統(tǒng)反射率、平行光管的透過率的校準(zhǔn)上.通過對(duì)這些關(guān)鍵部件性能參數(shù)的校準(zhǔn),可以保證紅外測(cè)試的精度.分析了影響NETD測(cè)試不確定度的幾個(gè)因素,高精度的黑體是測(cè)試高靈敏度紅外探測(cè)器和紅外熱像儀的必備條件之一.華中光電技術(shù)研究所建立了用戶紅外標(biāo)準(zhǔn)傳遞體系,其紅外標(biāo)準(zhǔn)可以回溯到美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)監(jiān)督局.其紅外測(cè)試精度與國(guó)外公司的測(cè)試結(jié)果的偏差在10％以內(nèi).給出了我國(guó)建立紅外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的建議.