一種高精度薄膜鉑電阻溫度計測量遲滯性的研究

張恒1曾凡超2文昌俊1郝小鵬3孫建平3傅承玉2
1. 湖北工業(yè)大學(xué)2. 湖北省計量測試技術(shù)研究院3. 中國計量科學(xué)研究院
摘要：為了研究熱遲滯性對工業(yè)鉑電阻溫度計測量不確定度的影響,選取了8支高精度鉑電阻溫度計進行實驗。在-50～150℃內(nèi),選擇3個溫度區(qū)間,采用兩種標(biāo)準(zhǔn)方法(IEC 60751,ASTM E644)測量水三相點(0. 01℃)和所選溫度范圍內(nèi)的中間點的遲滯性變化。實驗結(jié)果表明:4支薄膜鉑電阻溫度計在兩種標(biāo)準(zhǔn)方法測量下,隨著溫度區(qū)間跨度增大,熱遲滯性影響增大,IEC 60751標(biāo)準(zhǔn)方法測量的熱遲滯性最大值為14. 2 m K,ASTM E644標(biāo)準(zhǔn)方法測量的熱遲滯性最大值為20. 5 m K;選取4支鉑絲鉑電阻溫度計在溫度范圍為-50～150℃測量時,IEC 60751和ASTM E644標(biāo)準(zhǔn)方法測量的熱遲滯性數(shù)據(jù)最大值分別為1. 1 m K和0. 9 m K;鉑絲鉑電阻溫度計熱遲滯性明顯小于薄膜鉑電阻溫度計。