本帖最后由 路云 于 2018-10-28 01:42 編輯
檢定規(guī)程并沒有規(guī)定應(yīng)該檢8個(gè)點(diǎn),只是規(guī)定“對于多量程的試驗(yàn)機(jī):每個(gè)測量范圍的檢定點(diǎn)不得少于5個(gè),一般按每個(gè)量程的20%、40%、60%、80%、100%均勻分布。對于單量程的試驗(yàn)機(jī):在滿量程的20%~100%范圍內(nèi),近似等間隔分布選擇5個(gè)檢定點(diǎn)。對于低于滿量程20%的檢定點(diǎn),應(yīng)選擇近似等于10%、5%、2%、1%、0.5%、0.2%和0.1%…直到量程的下限。”說明檢定起始點(diǎn)不得低于量程的下限,對于0.5級電子萬能試驗(yàn)機(jī)來說,測量下限是分辨力r的400倍,即400r。您說的不少于8個(gè)檢定點(diǎn)那是標(biāo)準(zhǔn)測力儀的檢定,但標(biāo)準(zhǔn)測力儀初級負(fù)荷也是從額定負(fù)荷的10%~20%開始選的。如果檢定點(diǎn)在滿量程力值10%以下時(shí),只能增加5%和2%這兩個(gè)點(diǎn)。即標(biāo)準(zhǔn)測力儀10%FS及以上的測量范圍,檢定點(diǎn)一般不少于8個(gè)點(diǎn)。 |