《半導體器件直流和低頻參數測試設備校準規范》征求意...

本規范按照JJF1071-2010《國家計量校準規范編寫規則》編制，JJF1001-2011《通用計量術語及定義》、JJF 1059.1-2012《測量不確定度評定與表示》 共同構成支撐校準規范修訂工作的基礎性系列規范。
與JJG 725-1991《晶體管直流和低頻參數測試儀檢定規程》相比，除編輯性修改外，本規范主要修訂內容有：
——修改規范名稱為半導體器件直流和低頻參數測試設備校準規范。
——增加了引言部分。
——增加了有關名詞術語（見3）。
——修訂了計量特性（見5）。
——修訂了校準用標準器及其他設備（見6.2）。
——重新編制了校準項目及校準方法（見7）。
——去掉了附錄1各種型號被檢儀器的主要技術指標。
——修改了校準證書內容（見附錄A）。
——修改了原始記錄格式（見附錄B）。
——補充了測量不確定度評定的示例（見附錄C）。
歷次版本情況：
本規范是對JJG 725-1991的修訂。