低頻電連接器檢測(cè)方法研究

作　　者：劉趙云[1] 戴菲
機(jī)構(gòu)地區(qū)：[1]海軍駐三院軍事代表室,北京100074 [2]北京特種機(jī)械研究所,北京100143
摘　　要：本文主要闡述了低頻電連接器外觀檢測(cè)和電性能測(cè)試中的接觸電阻、絕緣電阻和介質(zhì)耐電壓的檢測(cè)方法及其注意事項(xiàng)，提出為滿足武器系統(tǒng)對(duì)低頻電連接器耐惡劣環(huán)境、高可靠的特殊需求，有效保證武器型號(hào)系統(tǒng)中電連接器的質(zhì)量，必須規(guī)范低頻電連接器外觀及電性能指標(biāo)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。本文可為從事低頻電連接器檢測(cè)工作的人員提供參考。