工業(yè)CT坐標(biāo)精密測(cè)量技術(shù)

蘇宇航,王倩妮,何方成
北京航空材料研究院, 北京 100095
摘要 介紹了基于X射線工業(yè)CT的坐標(biāo)精密測(cè)量技術(shù),討論了該技術(shù)相對(duì)于傳統(tǒng)三坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的優(yōu)勢(shì)和不足及國內(nèi)外的發(fā)展現(xiàn)狀,對(duì)主要研究方向進(jìn)行了探討和研究,指出目前CT坐標(biāo)測(cè)量中存在的問題,為評(píng)價(jià)測(cè)量不確定度提出了系統(tǒng)的解決思路。工業(yè)CT坐標(biāo)精密測(cè)量測(cè)量技術(shù)在國內(nèi)尚處于探索階段,具有較大的發(fā)展空間和應(yīng)用前景。

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