測微類大量程量具檢定

請教一下，300mm以上的外徑千分尺，檢定時各受檢點怎么分配啊。比如說（300-400）（400-500）的。

有老師在嗎，幫一下吧

　　千分尺檢定規程6.3.14條規定，對于測量上限大于150mm的千分尺，可以只檢微分頭的示值誤差，用專用量塊借助于圖12所示專用檢具，按0～25mm的千分尺受檢點檢定。

明白了，謝謝

我們現在的檢定方法是，借用專用量塊夾，把尺寸平均檢定五個點，取最大的示值誤差。我們正在長度建標，如果專家來審核的話，我們的方法可行嗎？

計量員sdd 發表于 2015-7-1 16:44
我們現在的檢定方法是，借用專用量塊夾，把尺寸平均檢定五個點，取最大的示值誤差。我們正在長度建標，如果 ...

　　你們的想法理論上可以，實際上不行。
　　因為千分尺測量尺寸過大時，借用專用量塊夾組合的量塊尺寸也就較大，千分尺的工作面較小，工作面與量塊的工作面緊密接觸以保證千分尺測量軸線垂直于量塊工作面的操作將比較困難，微小的不垂直將會產生較大的長度方向尺寸（示值誤差）的測量誤差，而千分尺的示值允差并不大，測量誤差將影響檢定結果。
　　之所以卡尺可以這樣檢定，是因為卡尺的示值誤差允許值比千分尺示值誤差允許值大得多，產生的測量誤差相比卡尺的示值允差可以忽略。

明白了  謝謝
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