三座標校準通止規和環規

規矩灣錦苑 發表于 2013-1-10 20:35
回復 6# 深圳漁民

　　你說得對，看用什么三坐標測量機了。UPMC850三坐標測量機的單軸允差 0.5+ L/900 ， ...

      前輩說的都有道理，有些地方不大認同。首先：三坐標不是萬能的，否則哪些專業測量儀器就沒必要存在了。個人理解:三坐標在空間位置測量是最大優勢，其他形狀測量方面還是不足，最簡單一個列子，三坐標能測量“平面度”，但能測量“粗糙度”嗎？還有于老師提到的XXX三坐標精度如何如何高，退一步說，光面環規，既然能稱為“規”，當然也有一定的等級要求，再則就說XXX三坐標單軸允差0.5+L/900，那不用考慮設備系統、人員測量、環境等等因素嗎？一句話，三坐標測量環規不科學、不可取。有時理論數據是一回事，真正操作體驗過才會明白。。。。。。純屬交流。

ul732 發表于 2016-3-10 11:22
前輩說的都有道理，有些地方不大認同。首先：三坐標不是萬能的，否則哪些專業測量儀器就沒必要存在 ...

　　三坐標測量機、工具顯微鏡等在幾何量計量中稱為“萬能”儀器，卡尺、千分尺、百分表等稱為“萬能”量具。但正如你所說，“萬能”也不是什么都能，只不過適用范圍大一點，多一點而已。
　　幾何量檢測參數按大小宏觀的稱為尺寸檢測和形位公差檢測，微觀的是表面粗糙度以及新近發展的納米級檢測，介于宏觀與微觀之間的應該是波度等的檢測。所謂的“萬能”儀器和量具只能檢測宏觀的參數，檢測微觀和波度參數的一般還是要使用“專用”測量設備。
　　一般來說能稱為“規”的測量設備準確度都很高，往往與萬能“量儀”、萬能“量具”相當，甚至高于“量儀”、“量具”，例如塊規、標準環規可以用來校準儀器和量具。所以使用三坐標測量機校準/檢定光滑量規必須要慎重，一般不推薦用“萬能”測量設備來校準光滑量規。18樓給出的復制件雖然也使用了測長儀、測長機、光學計等“儀器”，但使用這些儀器時不要忘記了更為關鍵的是3等、4等量塊。量塊即塊規，本質上還是以“規”檢測“規”，用 高準確度的規檢測較低準確度的規。

規矩灣錦苑 發表于 2012-10-24 13:56
贊同樓上意見。塞規和環規是一種準確度很高的測量設備，其準確度不亞于三坐標測量機，用三坐標測量機檢定量 ...

我終于明白了兩者測量的誤差怎么那么大

我想問下，你是怎么建立工件坐標系的，還是是就直接測量了？

wujiuniu 發表于 2016-5-20 17:46
我想問下，你是怎么建立工件坐標系的，還是是就直接測量了？

　　要根據被測參數的需要來確定，怎么簡單就怎么辦。如果僅僅是對某個方向的尺寸測量，可以按三坐標測量機運動方向將工件“找正”，直接用機器坐標系檢測就很方便。直觀。如果是被測零件的幾何要素多且相互關系復雜，用機器坐標系就困難重重，不如建立零件坐標系來得簡單。

可以去看國家校準規范，里面寫的校準，量值傳遞用的是測長機，不是你想用什么就用什么，本身就是很精密的量具，校準要按照國家校準規范

直徑200mm以上的環規，我們使用三坐標校準。環規端面建第一軸，以環規中心和刻線位置連線建立第二軸，環規中心為坐標原點，建立坐標系。 用三坐標單軸測量刻線處環規內壁兩曲面點，評價這兩個曲面點間的距離。