平行度要求5um 平面度要求3um一般精度三次元測量可以滿足嗎

我們公司現(xiàn)在在研發(fā)一款陽極鉬片


產(chǎn)品平行度要求5um 平面度要求3um 使用一般精度三次元可以滿足嗎？


諸位可否幫忙提供下可以測量儀器的型號或品牌，如果能夠有聯(lián)系方式那就更完美了，


謝謝！

附件為產(chǎn)品2D圖面，請各位幫忙看看

回復(fù) 2# winfeng2008


    直接拿激光掃描測量比較快。

精度太高了，一般精度的三座標(biāo)精度是不夠的。可以用如果板子不大的話，可以用立試光學(xué)計去測量,或精度在1um以內(nèi)的電子高度規(guī)去測。

不行了,精度太高了

一般三坐標(biāo)的不確定度會在4～5um，測量能力不能滿足要求

薄形工件使用坐標(biāo)機(jī)測量不太合適，用光學(xué)計小測力進(jìn)行測量合適

不適合，用光學(xué)測量較合適

　　被測件太薄了，安裝方法和測量力都會造成彎曲變形，因此就應(yīng)該用檢塞尺的方法來檢測這個被測件。所以我非常贊成4樓yj407 版主和8樓zhx730621 量友的意見，最簡單的方法是使用立式光學(xué)計檢測。

這是什么零件？這么薄，但是平面度和平行度的要求這么高，很容易變形的，從設(shè)計的角度來說也不合理呢。

用接觸式干涉儀進(jìn)行測量