千分尺兩測量面平行度的測量問題

千分尺檢定規(guī)程6.3.13 兩測量面的平行度測量方法如下：測量上限至100 mm千分尺兩測量面的平行度用4塊厚度差為1/4測微螺桿螺距的平行平晶檢定。也可用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定。
字面表達(dá)上平行度可以用平行平晶檢定，也可用量塊檢定。但數(shù)顯外徑千分尺兩測量面的平行度可不可以用平行平晶檢定？通過查平行平晶的平行度要求及數(shù)顯外徑千分尺兩測量面的平行度要求可知，前者不符合后者的1/3要求。在關(guān)于平行度的量值傳遞系統(tǒng)中，上下級是1/3要求么？還是說，數(shù)顯外徑千分尺的兩測量面平行度只能用4等量塊檢定，而不能用平行平晶？

數(shù)顯尺應(yīng)該用平晶檢定平行度

回復(fù) 2# yzhgw


可以用平晶檢定么？

自己再頂一下，有前輩給指點(diǎn)一下不？

用平行平晶檢驗(yàn)平行度

回復(fù) 4# 長度室

　　千分尺檢定規(guī)程說得很清楚：測量上限至100 mm千分尺兩測量面的平行度用4塊厚度差為1/4測微螺桿螺距的平行平晶檢定。也可用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定。
　　檢定方法的第一句話說明了優(yōu)先選擇的方法是“用4塊厚度差為1/4測微螺桿螺距的平行平晶檢定”，并沒有提出不適用于數(shù)顯千分尺工作面平行度檢定。第二句話用了一個(gè)“也”字，作為第二種檢定方法推薦，因種種原因不能用平行平晶檢定時(shí)，也可以用量塊檢定。當(dāng)用量塊檢定時(shí)，“數(shù)顯千分尺用4等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定”。因此測量上限至100 mm的數(shù)顯外徑千分尺的兩測量面平行度，即可用4等量塊檢定，也可用平行平晶，用平行平晶檢定仍然是首選的檢定方法。
　　至于你說的1/3原則問題，平面與平面相接觸進(jìn)行比對測量平面度與尺寸測量不同，被檢平面如果與標(biāo)準(zhǔn)平面緊密接觸，被檢平面的平面度就是標(biāo)準(zhǔn)平面的平面度，因此相互之間的傳遞原則可以放寬到1/2，甚至比1/2更大。你可以去看看國家《平面度計(jì)量器具檢定系統(tǒng)表框圖》就清楚了。

回復(fù) 6# 規(guī)矩灣錦苑


謝謝規(guī)矩灣老師的講解。“被檢平面如果與標(biāo)準(zhǔn)平面緊密接觸，被檢平面的平面度就是標(biāo)準(zhǔn)平面的平面度。”不太理解，被檢平面的平面度和標(biāo)準(zhǔn)平面的平面度我感覺應(yīng)該是不一樣的啊，除非兩個(gè)面完全吻合。另外檢定系統(tǒng)我之前在網(wǎng)上查了，沒有豆丁的，沒看成。回頭我再找一下看看，平面度和平行度是一個(gè)檢定系統(tǒng)的吧？

回復(fù) 7# 長度室

　　正如你所說，就是指兩個(gè)面完全吻合時(shí)，被檢平面的平面度就是標(biāo)準(zhǔn)平面的平面度。采用光隙法用線輪廓度樣板（俗稱型線樣板）檢測工件的線輪廓度誤差，也是這個(gè)道理。這種測量方法使用的測量原則稱為“與擬合要素比較原則（過去稱與理想要素相比較原則）”。大家都知道用千分尺測量尺寸時(shí)，如果采取絕對測量法直接讀取千分尺的讀數(shù)，和采用相對測量法用量塊拼一組和被測尺寸相等的量塊校準(zhǔn)千分尺，然后在千分尺上讀取被測尺寸與量塊的差值計(jì)算出被測尺寸，后者因?yàn)橄巳谐淌局嫡`差的影響，要比前者準(zhǔn)確度高。同樣和相對測量法有點(diǎn)類似，如果使用同等準(zhǔn)確度的測量設(shè)備測量，這種測量原則的測量不確定度要比“測量坐標(biāo)值原則”、“測量特征參數(shù)原則”等要高，所以就不一定非要滿足選擇測量設(shè)備的1/3原則了。
　　《平面度計(jì)量器具檢定系統(tǒng)表框圖》包含有平面平晶和平行平晶的量值傳遞要求。計(jì)量論壇里應(yīng)該可以下載。

回復(fù) 8# 規(guī)矩灣錦苑


好的，稍后我找找看。謝謝講解！