中國計(jì)量院科技成果獲得CAIA獎(jiǎng)

日前，2011年度中國分析測試協(xié)會科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)（CAIA獎(jiǎng)）揭曉，中國計(jì)量科學(xué)研究院5項(xiàng)科技成果榜上有名，其中包括一等獎(jiǎng)1項(xiàng)，二等獎(jiǎng)1項(xiàng)，三等獎(jiǎng)3項(xiàng)。
    獲得一等獎(jiǎng)的“分析測試用農(nóng)殘級有機(jī)溶劑純化制備與檢測核心關(guān)鍵技術(shù)研究”，是中國計(jì)量院承擔(dān)的國家科技部重大科技支撐計(jì)劃項(xiàng)目研究成果。該項(xiàng)目組攻克了14項(xiàng)科研用高純有機(jī)溶劑制備與檢測的共性關(guān)鍵技術(shù)，自主研發(fā)了甲醇、乙腈、正己烷、丙酮、乙酸乙酯、乙醇等色譜級、農(nóng)殘級與光譜級高純有機(jī)溶劑，并大部分實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化。與國際同類產(chǎn)品相比，這些具有自主知識產(chǎn)權(quán)的技術(shù)和試劑產(chǎn)品，技術(shù)指標(biāo)相當(dāng)，但生產(chǎn)成本和價(jià)格明顯降低，打破了我國高純有機(jī)試劑長期依賴進(jìn)口的局面，降低了對國外的技術(shù)依存，將在我國食品安全、環(huán)境保護(hù)、生命科學(xué)、生物安全等眾多領(lǐng)域發(fā)揮基礎(chǔ)支撐作用。
    榮獲二等獎(jiǎng)的“與國際等效的Si上SiO2超薄層厚度精確測量XPS方法”課題，建立了一種能高準(zhǔn)確度測量硅（Si）上二氧化硅（SiO2）超薄層厚度的XPS分析方法，通過參加國際關(guān)鍵比對并使等效度、方法的有效性得到了很好確認(rèn)，進(jìn)而成功申報(bào)國際校準(zhǔn)與測量能力，實(shí)現(xiàn)了我國相應(yīng)國家測量標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)與測量能力的國際互認(rèn)。該成果能夠較好滿足硅基器件、集成電路的制造對于二氧化硅柵氧化層厚度測量的迫切產(chǎn)業(yè)需求，具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。
    “中國分析測試協(xié)會科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)”是分析測試領(lǐng)域唯一的經(jīng)國家科技部批準(zhǔn)、由國家科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)勵(lì)辦公室正式登記的社會力量設(shè)獎(jiǎng)。自1993年至今，該獎(jiǎng)項(xiàng)已累計(jì)評選了19次，共有538項(xiàng)分析測試新技術(shù)、新方法等成果獲得獎(jiǎng)勵(lì)。《中國質(zhì)量報(bào)》

又是他們啊……