請問：不同波長，雜散光不同是什么原因造成的？

本想之所以會這樣是因為：為消除光柵的次級重疊現象，在鹵鎢燈與聚光鏡間加有濾光片組。如有用四塊濾光片組成，對于不同給定的工作波長，使用不同的濾光片消除次級重疊現象。而分光光度計雜散光的產生，除制造不良外，光學元件表面的灰塵和霉變是產生雜散光較主要原因。因為不同波長使用的消除次級重疊現象濾光片不同，當濾光片組中的各濾光片表面清潔程度不同，完全有可能在不同波長情況下，產生的雜散光不同。
    但是蔡老師說：對于入射狹縫之前消除次級重疊現象濾光片上的問題，對雜散光的貢獻很小。聽老師這樣一說，我恍然大悟。是哦，因為在入射狹縫之前的光本來就是復合光，濾光片表面清潔程度應該只影響能量的大小，而不會成為雜散光的原因。而且從棱鏡型和光柵型分光原理上可以看出：


    不同波長時，只是棱鏡或光柵的角度不同，其余沒有什么變化，也就是說：按理雜散光并不會因為波長不同而不同。但是，為什么樣會出現上述對于光柵型可見分光光度計，在360nm處檢定雜散光，經檢定此處雜散光為0.0%；但是在420nm處檢定發現：此處的雜散光竟然達到12.0%之大，遠超過了現行檢定規程，規定的雜散光計量性能的合格要求的情況？這可是我實際工作中，多次遇到的不同波長雜散光不同的實例之一哦！這也是我當時會思考該問題，并寫該文的原因。我當時因為沒想到該問題，而沒能向蔡老師請教其原因，現向各位版友討教！ 紫外、可見分光光度計雜散光檢定的建議(修改稿).rar (72.43 KB, 下載次數: 10)

2011-10-18 08:27 上傳

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目前的規程不刻意區分光柵還是棱鏡分光，只是針對紫外或可見波長進行檢定。按照規程起草人的意思，對于光柵儀器，360nm和420nm都需要檢雜散光，對于紫外儀器，220、360、420都要檢雜散光。

經過認真細致的思考,使我終于認識到:雖然消除次級重疊現象濾光片上的灰塵和霉點不是雜散光的誘因。但是，不管是棱鏡還是光柵，其同一制造不良狀態，在不同角度時（即分光光度計給出不同波長時）造成的雜散光，完全有可能不同；就是同一的表面積塵和有霉點的狀態，在棱鏡或光柵處不同的角度時，造成的雜散光，也完全有可能不同；特別是由于單色器內光的非人為的反射和散射更是有可能由于棱鏡或光柵處不同的角度時，造成的雜散光不同?？傊?，分光光度計不同波長時，雜散光完全有可能是不同。所以對于可分光光度計僅在360nm或420nm檢定雜散光；對于紫外（含可見）分光光度計僅在220nm和360nm（或420nm）檢定雜散光是不夠的，是很不充分的！

目前的規程不刻意區分光柵還是棱鏡分光，只是針對紫外或可見波長進行檢定。按照規程起草人的意思，對于光柵儀器，360nm和420nm都需要檢雜散光，對于紫外儀器，220、360、420都要檢雜散光。

vandyke 發表于 2011-10-18 19:44

我并不是說雜散光的檢定要區分光柵還是棱鏡的分光光度計，只是在討論雜散光的產生時，由于光柵型和棱鏡型分光光度計結構很不同，所以要分別提到。其實我原文的本意主要是對于可分光光度計僅在360nm或420nm檢定雜散光；對于紫外（含可見）分光光度計僅在220nm和360nm（或420nm）檢定雜散光是不夠的，是很不充分的！我一直在這樣做，希望對該問題感興趣的同行也這樣做：對于光柵的分光光度計不僅在360nm檢定雜散光，而且在420nm處也檢定雜散光，你就能得出同樣的結論。對于棱鏡的分光光度計，我并不是不想這樣去驗證，只是因為棱鏡的分光光度計在360nm沒有光，而我們又沒有波長更高于420nm的截止濾光片。