精確測量需要千分尺。第一個這樣的測量工具是由法國發明家Jean Laurent Palmer 在1848 年獲得了專利,被稱為“帶圓游標尺框的螺紋卡尺”。今天,我們仍然利用這一典型特征制造外徑千分尺。千分尺引入機械世界開始于兩個美國工程師Joseph R. Brown 和Lucian Sharpe 在1867 年對巴黎展覽會的訪問,他們的注意力被Palmer 的發明所吸引,并非常感興趣。在對Palmer 的設計加以改進之后產品被大批量制造,并由這兩位合伙人在市場上成功地推廣。
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1.刻度的讀法
● 標準刻度時(分度值0.01mm)
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通常情況下,可以像上圖那樣讀取到分度值0.01mm,也可以像下圖所示那樣,讀取分度值到0.001mm。
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● 帶有游標時(刻度0.001mm)
帶游標的千分尺在套管基線的上面有游標刻度。
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● 帶計數時(分度值0.001mm)
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2.定壓裝置
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3.因視差而引起的誤差
因為兩個刻度面的階差,當對齊刻度線來讀取數據時,由于眼睛的位置關系,看到的讀數線位置不同而引起的誤差。
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4.因溫度變化產生的測量誤差
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5.因溫度變化產生的千分尺與基準桿的伸縮差
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6.因溫度變化產生的基準桿的伸縮(相對于200mm 20℃)
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以手心溫度為21°C, 27°C, 31°C 的3 人,分別手握基準桿,測量其伸縮變化為例。
7.阿貝原理
“被測量物與標準尺在測量方向上必須置于一條直線上”。例如左圖所示,當測頭離開特殊的千分尺的刻度軸線時(R),容易產生誤差(ε),因此需要特別注意測力。
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8.虎克定律
往具有某一長度與斷面的物體上施加負荷時,在彈性限度內引起伸縮位移量的定律。
9.螺紋千分尺的主要測量誤差
誤差的原因 | 可能產生的
最大誤差 | 消除誤差的注意事項 | 即使加以注
意也無法消
除的誤差 | 千分尺的進給誤差 | 3μm | 1. 補正后使用 | ±1μm | 測砧與心軸的角度誤差 | 半角誤差為
15分
±5μm | 1. 測量角度誤差后補正
2. 用與被測量物相同的螺紋量規調整 | 推定半角
測量誤差為
+3μm | 測砧與心軸的錯位 | +10μm | | +3μm | 測力的影響 | +10μm | 1. 盡量使用低測力的量具
2. 必須使用棘輪鎖緊
3. 用螺距相等的螺紋量規調整 | +3μm | 基準規的角度誤差 | +10μm | 1. 進行補正計算(角度)
2. 補正長度誤差
3. 用與被測量物相同螺距的量規調整 | +3μm | 基準規的長度誤差 | ±(3+L/25)μm | 1. 進行補正計算
2. 用與被測量物相等的螺紋量規調整 | ±1μm | 測量物角度誤差 | JIS 2 級半角
誤差± 229 分
-91μm
+71μm | 1. 制作時盡量減小角度誤差。
2. 測量角度誤差,進行補正計算
3. 角度誤差較大時用三針法 | 半角誤差
±23分
±8μm | 綜合測量誤差 | (±117+40)μm | 可能發生的誤差累計值 | +26μm
-12μm |
10.三針裝置
有效直徑的計算公式:
米制螺紋、統一標準螺紋時(60°)
E= M-3d+0.866025P
惠式螺紋時(55°)
E= M-3.16568d+0.960491P
但是 P: 螺紋的間距(為統一標準螺紋時,將英制換算為公制)
d: 三針徑
E: 有效直徑
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11.三針法的主要測量誤差
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12.通過平行平晶干涉條紋可檢測平行度
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首先使平行平晶緊貼測砧的測量面。觀察在測力作用下心軸方向由白色光產生的紅色干涉條紋的數量。在上圖中為0.32μm× 3 = 0.96μm,平行度約即為1μm。
13.通過平面平晶的干涉條紋可檢測平面度
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