關(guān)于JJG 146-2003 量塊檢定規(guī)程里對(duì)量塊長(zhǎng)度的一點(diǎn)疑問(wèn)

這與測(cè)量方法有關(guān)。光干涉法，需要將量塊研合在平晶上，測(cè)量量塊另一個(gè)端面到平晶之間的距離。所以會(huì)有“量塊長(zhǎng)度包括單面研合的影響”的說(shuō)法。

那如果是帶筋工作臺(tái)就沒(méi)有影響了

量塊檢定規(guī)程已經(jīng)換版，現(xiàn)行有效版本是JJG146-2011。
      量塊檢定規(guī)程給“量塊的長(zhǎng)度”的定義簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是“點(diǎn)到平面的距離”。其中"點(diǎn)”是指工作面上任意一點(diǎn)（例如中心點(diǎn)或四個(gè)角點(diǎn)），“面”是指另一個(gè)工作面。
      量塊另一個(gè)工作面存在著平面度誤差而需要用一個(gè)叫做“模擬平面”的面來(lái)代替，這個(gè)“模擬”工作就由一個(gè)比量塊工作面平面度更佳的“平晶”來(lái)完成了。量塊工作面與平晶“研合”，平晶工作面就模擬了量塊那個(gè)與之研合的工作面。研合后的“模擬平面”并不是真實(shí)的“量塊工作面”，這種研合過(guò)濾了量塊工作面的平面度誤差，因此注2說(shuō)“量塊長(zhǎng)度包括單面研合的影響”。