JJF 1179-2007 集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 JJF 1179-2007  
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范
【 英文名稱 】 C.S. of High Temperature Dynamic IC Burn-in System
【 發(fā)布單位 】 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
【 批準(zhǔn)單位 】 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
【 發(fā)布日期 】 2007-6-14
【 實(shí)施日期 】 2007-9-14
【 開本頁數(shù) 】 10P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 /
【 起草單位 】 信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【 起 草 人 】 王酣 吳京燕 陳大為 郭守君