直接電位分析法的定位校準和斜率校準

黃淑英[1] 林竹光[2] 等
[1]廈門市衛生防疫站，廈門361004 [2]廈門大學化學系，現代分析科學教育部重點實驗室，廈門361005
摘　要:本文闡述了直接電位分析法定位和斜率校準的理論與測量原理。Eemf^-pM標準曲線法不必考慮定位和斜率校準問題；單點定位pMx直讀法，只進行定位校準，沒有完全校正電極理論與實際斜率不一致所產生的測量誤差，雙點定位pMx直讀法在pMs1-pMs2之間同時進行定位與斜率校準，測量的相對誤差較小。