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計(jì)量論壇

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[概念] 論“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”

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史錦順 發(fā)表于 2014-11-8 10:15:02 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
本帖最后由 史錦順 于 2014-11-8 10:37 編輯

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                                          論“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”            
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                                                                                                                 史錦順
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(一)兩類測(cè)量區(qū)分的標(biāo)準(zhǔn)          
       在測(cè)量計(jì)量領(lǐng)域中,無論是理論研究還是實(shí)際操作,都必須區(qū)分兩類測(cè)量。其核心思想是對(duì)象與手段的區(qū)分。
       兩類測(cè)量區(qū)分的意義是明確如下諸點(diǎn):該用哪個(gè)σ,即該不該除以根號(hào)N;能不能剔除異常數(shù)據(jù);怎樣選取測(cè)量?jī)x器;測(cè)得值表征量屬于對(duì)象還是手段。
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       若著眼點(diǎn)是對(duì)象的問題,表征量歸屬于對(duì)象,稱為統(tǒng)計(jì)測(cè)量。統(tǒng)計(jì)測(cè)量的條件是:
                    Δ(手段) << Δ(對(duì)象)                                                                      (1)
       若著眼點(diǎn)是手段的問題,表征量歸屬于手段,稱為基礎(chǔ)測(cè)量?;A(chǔ)測(cè)量的條件是:
                    Δ(對(duì)象) << Δ(手段)                                                                      (2)
       Δ指變化量或誤差范圍的指標(biāo)值(二者中取大者)。
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      (1)(2)是測(cè)量計(jì)量劃分兩類測(cè)量的一般標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)。
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       測(cè)量,以認(rèn)識(shí)量值為目的。在測(cè)量中,對(duì)象是被測(cè)量,測(cè)量?jī)x器是手段。Δ(對(duì)象)是被測(cè)量的變化,記為Δ(物);Δ(手段)是測(cè)量?jī)x器的誤差,記為Δ(儀)。
       測(cè)量中的基礎(chǔ)測(cè)量條件具體化為:
                    Δ(物) << Δ(儀)                                                                           (3)
       測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)測(cè)量條件具體化為:
                    Δ(儀) << Δ(物)                                                                           (4)
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(二)計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量        
       計(jì)量的對(duì)象是測(cè)量?jī)x器??疾斓氖莾x器的誤差值。由于計(jì)量中所用的標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值是已知的,標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍是可略的,于是可以用標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值來代表標(biāo)準(zhǔn)的真值
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       儀器的誤差元等于儀器示值減真值。計(jì)量場(chǎng)合真值已知,研究誤差,就是研究?jī)x器的示值。
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       儀器誤差是示值與真值之差,即“真誤差”;人們得到的是示值與標(biāo)稱值之差,稱“視在誤差”,視在誤差與真誤差之差,是計(jì)量誤差。計(jì)量誤差范圍等于所用標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍R(標(biāo))。計(jì)量的必要條件是R(標(biāo))可略。設(shè)被檢儀器的誤差范圍指標(biāo)值為R(儀),層次比q=R(標(biāo))/R(儀),q越小越好,通常要求q≤1/4,時(shí)頻計(jì)量要求q≤1/10.
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       由于標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍可略,于是可用標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值來代表真值。就是用視在誤差來代表誤差(真誤差)。
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       誤差有兩部分,一部分在重復(fù)測(cè)量中不變,這是系統(tǒng)誤差;一部分在重復(fù)測(cè)量中變化,這是隨機(jī)誤差。測(cè)量?jī)x器的隨機(jī)誤差,表現(xiàn)為儀器示值有隨機(jī)變化。
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       儀器的示值,在重復(fù)測(cè)量中變化,是隨機(jī)變量。通常,將示值代入貝塞爾公式計(jì)算,求σ,求σ(平),這都是把儀器示值當(dāng)隨機(jī)變量來處理。
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       被檢儀器的示值是準(zhǔn)隨機(jī)變量(大的常值上有小的隨機(jī)變量),對(duì)準(zhǔn)隨機(jī)變量的測(cè)量定義為“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”。因此說:“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”。
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       在計(jì)量場(chǎng)合,對(duì)象是被檢測(cè)量?jī)x器,而手段是計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)必須遠(yuǎn)小于被檢儀器的指標(biāo),符合條件(1),因此,計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量。計(jì)量與測(cè)量的對(duì)象與手段有原則性不同,判別計(jì)量是哪類測(cè)量,不能用測(cè)量場(chǎng)合的特定條件(3)與(4),而必須用通用條件(1)與(2)。
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(三)計(jì)量的數(shù)據(jù)處理方式      
       1 計(jì)量中的嚴(yán)格的定量計(jì)算   
       設(shè)標(biāo)準(zhǔn)的真值為Z,標(biāo)稱值為B,儀器示值為Mi,測(cè)量次數(shù)為N。
       1.1 求平均值M(平)
                      M(平) = (∑Mi)/√N(yùn)                                                                        (5)
       1.2 按貝塞爾公式計(jì)算實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差σ。σ是統(tǒng)計(jì)變量的單值分散性的表征量,記為σ(單)。
       1.3 求平均值的σ(平)
                      σ(平) = σ/√N(yùn)                                                                                (6)
       1.4 求測(cè)量點(diǎn)的系統(tǒng)誤差
                    R(系)=│M(平)-B│                                                                          (7)
       1.5 平均值的隨機(jī)誤差是3σ(平)
       1.6 被檢測(cè)量?jī)x器示值的隨機(jī)偏差是3σ
       1.7 被檢測(cè)量?jī)x器的誤差范圍由系統(tǒng)誤差R(系)、確定系統(tǒng)誤差時(shí)的測(cè)量誤差3σ(平)與示值的隨機(jī)誤差3σ合成。因有第3項(xiàng),第二項(xiàng)可略。因系以標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值為參考得出,稱其為誤差范圍實(shí)驗(yàn)值,記為
                    R(實(shí)驗(yàn))= R(系) + 3σ                                                                        (8)
       1.8 被檢測(cè)量?jī)x器的誤差范圍(以真值為參考的真誤差范圍)
                    R = R(實(shí)驗(yàn)) + R(B)
                       = R(系) + 3σ+R(B)                                                                         (9)
       R(B)是所用標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍。因?yàn)檎`差范圍定義為誤差元的最大可能值,故(8)(9)式都取加號(hào)。
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       2 計(jì)量中嚴(yán)格的合格性判別         
       被檢測(cè)量?jī)x器的誤差范圍R不大于儀器的指標(biāo)值,合格。
                    R ≤ R(儀)
                   R(實(shí)驗(yàn)) + R(B) ≤ R(儀)
                   R(實(shí)驗(yàn)) ≤ R(儀) – R(B)                                                                    (10)
                   R(系) + 3σ ≤ R(儀) – R(B)                                                               (11)
                   │M(平)– B│ +3σ ≤ R(儀) – R(B)                                                       (12)   
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       誤差范圍是誤差元絕對(duì)值的最大可能值,因此計(jì)量時(shí)要找誤差元的最大可能值。(10)中R(實(shí)驗(yàn))是一個(gè)測(cè)量點(diǎn)上的誤差最大可能值(統(tǒng)計(jì)方法用3σ)。注意,測(cè)量?jī)x器的誤差范圍指標(biāo)是就量程的各個(gè)點(diǎn)而言的,因此要找各點(diǎn)的誤差范圍值的最大值。
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      3 計(jì)量中的簡(jiǎn)化處理            
       在檢定工作中,為簡(jiǎn)化計(jì)算,可采用如下計(jì)算與判別方式:設(shè)Δ是儀器測(cè)得值與標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)稱值之差,若
                    │Δ│max ≤ R(標(biāo)稱) – R(B)                                                               (13)
則儀器合格。
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       為充分顯現(xiàn)誤差元的最大可能值,要根據(jù)測(cè)量?jī)x器的特點(diǎn),合理的設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值。標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值要有足夠的細(xì)度、足夠的量值范圍,合理的分布。檢定中,要有足夠的采樣點(diǎn),有足夠的測(cè)量次數(shù)。要重點(diǎn)針對(duì)測(cè)量?jī)x器的薄弱點(diǎn)??偟脑瓌t是要找到測(cè)量?jī)x器誤差的最大可能值。
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       在上述關(guān)于計(jì)量的討論中,核心概念是誤差范圍。因?yàn)橛?jì)量場(chǎng)合有計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),誤差元是可以求的,但求誤差元是過渡,最后都要落實(shí)到誤差范圍上。
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(四)JJF1094-2002《測(cè)量?jī)x器特性評(píng)定》補(bǔ)充與置疑        
        JJF1094-2002的合格性判別式為
                   │Δ│ ≤  R(標(biāo)稱) – U95                                                                    (14)
       1 補(bǔ)充            
       │Δ│是被檢儀器的示值與標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值之差。測(cè)量中,可能只測(cè)量一個(gè)值,是隨機(jī)選取的,因此它體現(xiàn)了單值的分散性;也可能是多個(gè)取值,而要取其中的最大值。各測(cè)量點(diǎn)的值不同,要取最大者。│Δ│不能取平均值,因?yàn)槿∑骄档扔谀⒈粰z儀器的隨機(jī)誤差。因此,應(yīng)加最大值符號(hào)max,記為│Δ│max。
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       2 置疑       
       比較判別式(14)與(13)可知,右側(cè)的R(標(biāo))換成了U95,是錯(cuò)誤的。U95包含了被檢儀器的性能,是不應(yīng)該的。
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(五)A類不確定度評(píng)定的三個(gè)弊病           
        1 對(duì)統(tǒng)計(jì)測(cè)量,本應(yīng)是σ(單)而錯(cuò)誤的用σ(平)。除以根號(hào)N是錯(cuò)誤的。除以根號(hào)N的作用,是抹殺隨機(jī)變量的變化特性。
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       在統(tǒng)計(jì)測(cè)量中,隨機(jī)變量的偏差這個(gè)隨機(jī)變量,本來是一個(gè)常值加一個(gè)可正可負(fù)、可大可小的隨機(jī)值,偏差元d與偏差范圍D應(yīng)為
                    d = r(平) ± 3σ
                    D = D(系) + 3σ
       其中
                    D(系)=│M(平)– L(標(biāo))│+3σ(平)
       有
                    D=│M(平)– L(標(biāo))│+3σ(平) + 3σ

       D(系)是測(cè)量?jī)x器示值的平均值與標(biāo)稱值之差的絕對(duì)值,稱系統(tǒng)偏差范圍。
       不確定度的A類評(píng)定,把3σ丟掉,實(shí)際是將D代換成D(系),這是不對(duì)的。這大大降低了被測(cè)量客觀存在的分散性。
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       2 對(duì)基礎(chǔ)測(cè)量,隨機(jī)誤差由測(cè)量?jī)x器引起。測(cè)量?jī)x器的誤差范圍為
                    R(儀)= R(系)+3σ
        R(系)只在有計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合,即計(jì)量場(chǎng)合才能確定。因此在測(cè)量場(chǎng)合,A類評(píng)定不能完成獨(dú)立的評(píng)定。由此,不確定評(píng)定,不能沒有B類評(píng)定,而B類評(píng)定中的“說明書
規(guī)格”中,已包含儀器的隨機(jī)誤差范圍。A類評(píng)定,重計(jì)了。也就是說,對(duì)基礎(chǔ)測(cè)量來說,A類評(píng)定是多余的。
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       3 評(píng)定檢定的誤差與檢定裝置的檢定能力,錯(cuò)誤地加進(jìn)被檢儀器的性能。居然出現(xiàn)用銫標(biāo)準(zhǔn)檢定不了通用頻率計(jì)的怪事。錯(cuò)誤理論,危害大矣!   
       不確定度論的錯(cuò)誤,產(chǎn)生的根源之一是不能區(qū)分兩類測(cè)量,沒有認(rèn)識(shí)到計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量。
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(六) 明確“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”的意義                       
        1 計(jì)量中不能剔除異常數(shù)據(jù)。有異常數(shù)據(jù),要找到原因,是被檢儀器的問題,就判定儀器不合格。是檢定裝置或環(huán)境條件的原因要改進(jìn)。在沒有異常數(shù)據(jù)的條件下,才能給出檢定結(jié)果。
        2 要找被檢儀器示值變化的最大可能值。因?yàn)闇y(cè)量?jī)x器的隨機(jī)誤差的表征量是σ(單),而不是σ(平)。
        3 計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)在檢定中是手段,手段的因素必須可以忽略。檢定必須用夠格的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。
        4 必須區(qū)分手段與對(duì)象,不能把對(duì)象的問題錯(cuò)賴在手段上。要抵制不確定度評(píng)定的錯(cuò)誤作法。評(píng)定檢定裝置的檢定能力,不能把被檢儀器的性能計(jì)入。合格判別的U95的評(píng)定,包含有被檢儀器的因素,不對(duì);要把U95換成標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍R(標(biāo))。
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       筆者提出“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”,反對(duì)者甚多。確實(shí),理解這個(gè)問題有一定難度。但老史確信:贊成者會(huì)越來越多。是金子,總會(huì)發(fā)光。是真理,就不怕被人反對(duì)。希望一時(shí)還反對(duì)這個(gè)論點(diǎn)的網(wǎng)友,仔細(xì)思考一下,不要輕率地排斥新學(xué)說。需知,真知灼見是抹殺不了的,真理是壓制不住的!
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八一八 發(fā)表于 2014-11-10 23:27:34 | 只看該作者
看了先生的很多文章,對(duì)先生說的東西也非常贊同
前些日子看了一部電影,結(jié)尾,主角推翻了所有的概念,認(rèn)為目前的概念都是錯(cuò)誤的。我十分的贊同~!電影的名稱《超體》
推薦先生有空的時(shí)候看看。
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qcdc 發(fā)表于 2014-11-13 15:54:58 | 只看該作者
本帖最后由 qcdc 于 2014-11-13 15:58 編輯

      您自己定義的統(tǒng)計(jì)測(cè)量的條件是:
             Δ(手段) << Δ(對(duì)象)       (1)
             Δ(對(duì)象)是被測(cè)量的變化,記為Δ(物);Δ(手段)是測(cè)量?jī)x器的誤差,記為Δ(儀)。
      測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)測(cè)量條件具體化為:
             Δ(儀) << Δ(物)           (2)
       且不說您對(duì)統(tǒng)計(jì)測(cè)量的定義是否科學(xué)。
       您斷定計(jì)量(檢定或校準(zhǔn))是統(tǒng)計(jì)測(cè)量        
       請(qǐng)問檢定/校準(zhǔn)一個(gè)砝碼或標(biāo)準(zhǔn)電阻,在檢定/校準(zhǔn)的過程中是否可以認(rèn)為砝碼或標(biāo)準(zhǔn)電阻的量值保持不變,即Δ(物)認(rèn)為等于零,而Δ(儀)是不可能認(rèn)為等于零的,這樣(1)和(2)式能成立嗎?能是您定義的統(tǒng)計(jì)測(cè)量嗎?您怎么自己給出的定義自己都不會(huì)用呢?您硬將Δ(物) 理解成被檢定/校準(zhǔn)對(duì)象的誤差,請(qǐng)問量的變化和誤差是一回事嗎?不要覺得否認(rèn)了這一點(diǎn)會(huì)動(dòng)搖您的許多觀點(diǎn),要知道這點(diǎn)事是很好理解的,您不承認(rèn)并不影響大家的判斷。
       您還認(rèn)為計(jì)量(檢定或校準(zhǔn))是統(tǒng)計(jì)測(cè)量嗎?
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規(guī)矩灣錦苑 發(fā)表于 2014-11-13 18:37:13 | 只看該作者
本帖最后由 規(guī)矩灣錦苑 于 2014-11-13 18:42 編輯

  史老師說:若著眼點(diǎn)是對(duì)象的問題,表征量歸屬于對(duì)象,稱為統(tǒng)計(jì)測(cè)量。統(tǒng)計(jì)測(cè)量的條件是:Δ(手段)<<Δ(對(duì)象)   (1)
  用光學(xué)計(jì)檢定光滑量規(guī),光滑量規(guī)是實(shí)物量具被測(cè)量的變化Δ(對(duì)象)→0,光學(xué)計(jì)的誤差Δ(手段) 將大于Δ(對(duì)象),而不滿足公式(1) Δ(手段)<<Δ(對(duì)象),這個(gè)檢定(史老師說的計(jì)量)還能夠說是“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”嗎?計(jì)量檢定和校準(zhǔn)活動(dòng)中類似于這樣的例子還有許多,因此用公式(1)斷定“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”需要慎重。
  史老師還說:若著眼點(diǎn)是手段的問題,表征量歸屬于手段,稱為基礎(chǔ)測(cè)量?;A(chǔ)測(cè)量的條件是:Δ(對(duì)象)<<Δ(手段)  (2)
  用量塊測(cè)量百分表的示值誤差,量塊的誤差Δ(手段)→0, 被測(cè)量百分表的示值誤差變化Δ(對(duì)象)將大于Δ(手段),而不滿足公式(2) Δ(對(duì)象)<<Δ(手段),這個(gè)測(cè)量還能夠說是“基礎(chǔ)測(cè)量”嗎?同樣類似于這樣的例子也很多,因此由公式(2)斷定某項(xiàng)測(cè)量屬于基礎(chǔ)測(cè)量也需慎重。
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都成 發(fā)表于 2014-11-13 21:11:02 | 只看該作者
規(guī)矩灣錦苑 發(fā)表于 2014-11-13 18:37
  史老師說:若著眼點(diǎn)是對(duì)象的問題,表征量歸屬于對(duì)象,稱為統(tǒng)計(jì)測(cè)量。統(tǒng)計(jì)測(cè)量的條件是:Δ(手段)<<Δ ...

您前半部分關(guān)于統(tǒng)計(jì)測(cè)量的反駁是對(duì)的,但是后半部分關(guān)于基礎(chǔ)測(cè)量的反駁是錯(cuò)誤的。請(qǐng)?jiān)僬遄谩?/td>
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規(guī)矩灣錦苑 發(fā)表于 2014-11-13 22:19:20 | 只看該作者
  未明白你說的錯(cuò)在何處,如果略作補(bǔ)充修正,你看如何?
  史老師還說:若著眼點(diǎn)是手段的問題,……,稱為基礎(chǔ)測(cè)量?;A(chǔ)測(cè)量的條件是:Δ(對(duì)象)<<Δ(手段)  (2)
  用量塊測(cè)量百分表的示值誤差,因量塊按等使用,使用的是實(shí)際值“名義值+偏差(相當(dāng)于修正值)”,因此量塊的誤差Δ(手段)將小于1μm→0。 被測(cè)量(百分表的示值誤差)的變化Δ(對(duì)象)將可能相當(dāng)大(規(guī)程規(guī)定示值重復(fù)性3μm或示值漂移一個(gè)分辨力10μm),明顯大于Δ(手段),而不滿足公式(2) Δ(對(duì)象)<<Δ(手段),這個(gè)測(cè)量還能夠說是“基礎(chǔ)測(cè)量”嗎?同樣類似于這樣的例子也很多,因此由公式(2)斷定某項(xiàng)測(cè)量屬于基礎(chǔ)測(cè)量也需慎重。
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zwr 發(fā)表于 2014-11-14 14:13:31 | 只看該作者
史老又發(fā)表論文了,恭喜!
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 樓主| 史錦順 發(fā)表于 2014-11-14 18:08:46 | 只看該作者
本帖最后由 史錦順 于 2014-11-14 18:13 編輯

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                     關(guān)于“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”的答辯(1)               
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                                                                                                                                          史錦順      
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       都成說規(guī)矩灣的帖子一半問錯(cuò)了,把質(zhì)疑變成了證實(shí)。無奈,規(guī)矩灣不解都成的意思,又說了一遍,還是幫史錦順說話。史錦順就只好偷著樂——反對(duì)我的觀點(diǎn),卻在論述我的說法是正確的。我坐享其成了。
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       規(guī)矩灣說
       用量塊測(cè)量百分表的示值誤差,因量塊按等使用,使用的是實(shí)際值“名義值+偏差(相當(dāng)于修正值)”,因此量塊的誤差Δ(手段)將小于1μm→0。 被測(cè)量(百分表的示值誤差)的變化Δ(對(duì)象)將可能相當(dāng)大(規(guī)程規(guī)定示值重復(fù)性3μm或示值漂移一個(gè)分辨力10μm),明顯大于Δ(手段),而不滿足公式(2) Δ(對(duì)象)<<Δ(手段),這個(gè)測(cè)量還能夠說是“基礎(chǔ)測(cè)量”嗎?同樣類似于這樣的例子也很多,因此由公式(2)斷定某項(xiàng)測(cè)量屬于基礎(chǔ)測(cè)量也需慎重。   
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      【史評(píng)】         
       檢定百分表,標(biāo)準(zhǔn)是量塊。量塊是手段,Δ(手段) 很小,百分表是對(duì)象,Δ(對(duì)象)相當(dāng)大。Δ(手段)<<Δ(對(duì)象),滿足公式(1),是統(tǒng)計(jì)測(cè)量,而不是基礎(chǔ)測(cè)量。
       規(guī)矩灣說:用量塊檢定百分表,不滿足條件(2),不是基礎(chǔ)測(cè)量;說法正確。
       用量塊檢定百分表,不滿足條件(2),不是基礎(chǔ)測(cè)量;不滿足條件(2),而滿足條件(1),因此,用量塊檢定百分表是統(tǒng)計(jì)測(cè)量。老史的論題是“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”,該項(xiàng)計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量,這是證明老史論點(diǎn)成立的一個(gè)實(shí)例。在計(jì)量中,類似的實(shí)例很多。這大量的實(shí)例都證明老史的“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”的判斷成立。
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       用量塊、砝碼檢定測(cè)量?jī)x器,或用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量?jī)x器檢定一般測(cè)量?jī)x器,Δ(手段)<<Δ(對(duì)象),滿足判別公式(1)是統(tǒng)計(jì)測(cè)量,這一點(diǎn),應(yīng)該容易達(dá)成共識(shí)。難點(diǎn)是:檢定量塊、檢定砝碼,還能說是統(tǒng)計(jì)測(cè)量嗎?理解這個(gè)問題,老史費(fèi)了幾個(gè)月的時(shí)間,才完成一次認(rèn)識(shí)上的飛躍。此點(diǎn)都成質(zhì)疑在前,有又幾位有同樣的質(zhì)疑,老史絕不回避要害問題,一定答復(fù)。只是話要長(zhǎng)些,幾乎與我整個(gè)學(xué)術(shù)活動(dòng)史有關(guān)。我將努力交一份經(jīng)得住歷史考驗(yàn)的答卷。因手頭在寫關(guān)于兩個(gè)西格瑪?shù)奈恼拢^些日子才能回復(fù)質(zhì)疑者們。只想先交代一句:老史是胸有成竹的。要仔細(xì)研究老史的文章,才能提出有分量的質(zhì)疑。一棵小草,一踩便倒;扳倒一棵樹,就得有足夠的力氣。六年北大的熏陶,十年國家計(jì)量院的磨礪,五十二年的理論創(chuàng)新、學(xué)術(shù)論戰(zhàn)的歷史,與八位院士的爭(zhēng)辯,與幾十位教授級(jí)學(xué)者的切磋與探討,練就的是辨別是非的識(shí)別能力、不畏權(quán)威的置疑精神、不斷提出新見解、新理論乃至新學(xué)說的勇氣。我這里自我表白一通,目的是吸引網(wǎng)友,都來看看老史這篇有新意的文章,對(duì)還是不對(duì)。不論贊成還是反對(duì),都該認(rèn)真想一想。
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qcdc 發(fā)表于 2014-11-14 22:24:25 | 只看該作者
史錦順 發(fā)表于 2014-11-14 18:08
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                     關(guān)于“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”的答辯(1)               
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       看了您的自我介紹,非常敬佩!晚輩有禮了!您的精神可嘉,可咱得說的有道理,不能自己否定自己。
       您在1#的(二)計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量的后邊寫到:
        “在計(jì)量場(chǎng)合,對(duì)象是被檢測(cè)量?jī)x器,而手段是計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)必須遠(yuǎn)小于被檢儀器的指標(biāo),符合條件(1),因此,計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量。”
       再看看(一)兩類測(cè)量區(qū)分的標(biāo)準(zhǔn)是怎么寫的:         
       若著眼點(diǎn)是對(duì)象的問題,表征量歸屬于對(duì)象,稱為統(tǒng)計(jì)測(cè)量。統(tǒng)計(jì)測(cè)量的條件是:
                    Δ(手段) << Δ(對(duì)象)                                                                      (1)
       測(cè)量,以認(rèn)識(shí)量值為目的。在測(cè)量中,對(duì)象是被測(cè)量,測(cè)量?jī)x器是手段。Δ(對(duì)象)是被測(cè)量的變化,記為Δ(物);Δ(手段)是測(cè)量?jī)x器的誤差,記為Δ(儀)。
       測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)測(cè)量條件具體化為:
                    Δ(儀) << Δ(物)                                                                           (4)

        在您的兩類測(cè)量區(qū)分的標(biāo)準(zhǔn)中:Δ(對(duì)象)是被測(cè)量的變化,記為Δ(物),可是在您判定計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量時(shí)卻把“被檢儀器的指標(biāo)”當(dāng)成了“被測(cè)量的變化”,例如將被檢標(biāo)準(zhǔn)電阻、砝碼、電容、電感等量具或儀器的指標(biāo)當(dāng)成了其量值的變化,在檢定過程中量具或儀器的指標(biāo)是可觀的,而其量值的變化是微量的。請(qǐng)問“被檢儀器的指標(biāo)”和“其量值的變化”是一回事嗎?自己下的定義自己不會(huì)用了嗎?

         兩個(gè)σ的問題1059和1059.1都已說的很清楚,用錯(cuò)了那是個(gè)別使用者的問題,計(jì)量是否為統(tǒng)計(jì)測(cè)量才是關(guān)鍵問題,關(guān)系重大,您還是先來解決這個(gè)問題吧。

      
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 樓主| 史錦順 發(fā)表于 2014-11-15 07:38:02 | 只看該作者
本帖最后由 史錦順 于 2014-11-15 07:47 編輯
qcdc 發(fā)表于 2014-11-14 22:24
看了您的自我介紹,非常敬佩!晚輩有禮了!您的精神可嘉,可咱得說的有道理,不能自己否定自己。
...


         你自稱“晚輩”,得知你年輕,我好生羨慕。
        兩次發(fā)問,理直氣壯,頗有質(zhì)疑精神。
        關(guān)于“兩類測(cè)量”的劃分與“兩個(gè)西格瑪”的區(qū)分,哪個(gè)分量重的問題,我和你有不同的認(rèn)識(shí)。我認(rèn)為后者更重要,因?yàn)檫@涉及測(cè)量計(jì)量工作的具體的操作、具體的數(shù)據(jù)處理方法。你說對(duì)兩個(gè)西格瑪?shù)奶幚硪呀?jīng)解決得很好,這表明你在這個(gè)問題上,多點(diǎn)迷信,少點(diǎn)質(zhì)疑精神。我正在寫一篇繼續(xù)探討兩個(gè)西格瑪區(qū)分的文章,幾天內(nèi)可掛出。請(qǐng)你批評(píng)。我的兩類測(cè)量劃分的提法,主要是為了便于區(qū)分兩個(gè)西格瑪。也有一些其他應(yīng)用,如判別該不該剔除異常數(shù)據(jù)以及該如何選取測(cè)量?jī)x器等。
       其實(shí)你還沒進(jìn)入贊成還是反對(duì)兩類測(cè)量劃分這個(gè)本質(zhì)問題,僅僅是在舞弄“以其矛攻其盾”這種邏輯武器。請(qǐng)你注意,我給出的條件(1)是普適的,可以用于測(cè)量,也可以用于計(jì)量;而僅僅在測(cè)量(認(rèn)知量值)的情況下,才可以蛻化為條件(4).計(jì)量時(shí)的對(duì)象與手段,與測(cè)量時(shí)的對(duì)象與手段截然不同。不能用條件(4)來處理計(jì)量的類別劃分問題。計(jì)量時(shí)的手段問題必須遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于對(duì)象的問題,所以我才判斷計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量。這是符合條件(1)的,并沒有邏輯錯(cuò)誤。你用測(cè)量之矛,攻計(jì)量之盾,是因?yàn)槟惆褍深悳y(cè)量劃分的不同條件下的不同標(biāo)準(zhǔn)弄混了。一個(gè)是普適條件,一個(gè)是特定條件,我在文章中是交代過的。你大概沒注意,請(qǐng)你再仔細(xì)看看。
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qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 12:54:41 | 只看該作者
本帖最后由 qcdc 于 2014-11-15 13:18 編輯
史錦順 發(fā)表于 2014-11-15 07:38
你自稱“晚輩”,得知你年輕,我好生羨慕。
        兩次發(fā)問,理直氣壯,頗有質(zhì)疑精神。
      ...


對(duì)于量具的檢定,就是要獲得被檢量具的量值,這和測(cè)量一個(gè)量具的量值沒有什么區(qū)別,您說的普適條件和特定條件就統(tǒng)一了,只能確定為要么基礎(chǔ)測(cè)量要么統(tǒng)計(jì)測(cè)量,我想咱們確定為基礎(chǔ)測(cè)量是沒有疑問的吧!而當(dāng)看做計(jì)量時(shí)您硬說是統(tǒng)計(jì)測(cè)量,您的理由就是把“被檢儀器的指標(biāo)”當(dāng)成了“被測(cè)量的變化”,這兩個(gè)它不是一個(gè)東西!像您這樣將“被測(cè)的指標(biāo)”和“被測(cè)量的變化”相混淆的話,則幾乎所有的測(cè)量都將變成統(tǒng)計(jì)測(cè)量,因?yàn)槿魏涡枰獪y(cè)量的量大都會(huì)有一個(gè)指標(biāo),我們測(cè)量的手段必須要遠(yuǎn)小于這個(gè)指標(biāo),即為統(tǒng)計(jì)測(cè)量!例如看看查體報(bào)告,是不是有指標(biāo);產(chǎn)品的檢驗(yàn)是不是有指標(biāo),等等。
您不覺得用了兩種標(biāo)準(zhǔn)嗎?
可以明確的告訴您,雖然在這里跟您討論您的兩類測(cè)量,并不是贊成,而是堅(jiān)決反對(duì)這種劃分,關(guān)于測(cè)量的分類教科書中給出了很多,都?jí)蛴昧恕Df計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量,請(qǐng)問檢定時(shí)通常測(cè)量1次,2次、3次或4次等取平均值即可完事,用了多少統(tǒng)計(jì)知識(shí),造詞也要看其內(nèi)涵,如果測(cè)量過程并沒有用到統(tǒng)計(jì)知識(shí),而說是統(tǒng)計(jì)測(cè)量,不是很勉強(qiáng)嗎?
史老似乎對(duì)檢定量具是否為統(tǒng)計(jì)測(cè)量避而不談?談?wù)効矗?/font>
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njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 15:19:34 | 只看該作者
本帖最后由 njlyx 于 2014-11-15 15:36 編輯
qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 12:54
對(duì)于量具的檢定,就是要獲得被檢量具的量值,這和測(cè)量一個(gè)量具的量值沒有什么區(qū)別,您說的普適條件和特定 ...


        史先生的初衷是好的,想避開“概率與統(tǒng)計(jì)”的一些似乎有點(diǎn)“深?yuàn)W”的基本概念,實(shí)用的“界定”什么時(shí)候“那個(gè)西格瑪要除以根號(hào)N“?...只是這確實(shí)有點(diǎn)難度!

     如果稍用一點(diǎn)“概率與統(tǒng)計(jì)”的基本概念【要求大家認(rèn)識(shí)“隨機(jī)量”的“統(tǒng)計(jì)特征值”:諸如“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類】,便無需再費(fèi)十分的精力區(qū)分“基礎(chǔ)測(cè)量”與“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”了——

    一個(gè)“測(cè)量”的測(cè)量結(jié)果(測(cè)得值)被測(cè)量(被測(cè)對(duì)象)測(cè)量系統(tǒng)(測(cè)量手段)兩方面相關(guān)! 無論是普通的測(cè)量,還是與“計(jì)量”活動(dòng)相關(guān)的特殊測(cè)量,對(duì)于被測(cè)量(被測(cè)對(duì)象)與測(cè)量系統(tǒng)(測(cè)量手段)這兩方面,只有在其中一方面特性【諸如“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類的“統(tǒng)計(jì)”特征值】已知的前提下,才可能通過測(cè)量結(jié)果(測(cè)得值)獲得另一方面的特性【諸如“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類的“統(tǒng)計(jì)”特征值】。..... 已知測(cè)量系統(tǒng)(測(cè)量手段)的特性【諸如“測(cè)量誤差”的“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類】,才能由測(cè)量結(jié)果(測(cè)得值)獲得被測(cè)量(被測(cè)對(duì)象)特性【諸如“被測(cè)量”的“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類】的“最佳估計(jì)值”;反之亦然。若是兩者皆茫然,便會(huì)是一筆糊涂帳了!

    至于“測(cè)量不確定度”引用的那個(gè)“西格瑪”是否應(yīng)該除以根號(hào)N,或是一個(gè)不太難抉擇的事:針對(duì)被測(cè)量(或“測(cè)量系統(tǒng)”的測(cè)量誤差)的“均值”,考慮其“測(cè)量不確定度”時(shí),相應(yīng)的“西格瑪”應(yīng)考慮除以根號(hào)N的問題(也不能閉眼瞎除!實(shí)際情況根本不會(huì)滿足“除以根號(hào)N的假定條件”?。?;而被測(cè)量(或“測(cè)量系統(tǒng)”的測(cè)量誤差)本身“標(biāo)準(zhǔn)偏差”的“最佳估計(jì)值”是不應(yīng)該再除以什么根號(hào)N的,除非你要考慮它的“測(cè)量不確定度”[當(dāng)前似乎尚未‘深入’到這個(gè)層次?]。
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qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 16:54:13 | 只看該作者
本帖最后由 qcdc 于 2014-11-15 16:57 編輯
njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 15:19
史先生的初衷是好的,想避開“概率與統(tǒng)計(jì)”的一些似乎有點(diǎn)“深?yuàn)W”的基本概念,實(shí)用的“界定”什 ...


看來您再不確定度評(píng)定方面有一定見解。本帖是 :論“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量” ,先不去管別的,問題一個(gè)一個(gè)地解決。史老師提出了兩類測(cè)量及其判定準(zhǔn)則,在多個(gè)地方討論過,在這里史老師單獨(dú)討論 “計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量” ,我們先不說這種提法是否科學(xué),您覺得計(jì)量符合史老師定義的統(tǒng)計(jì)測(cè)量嗎?是的理由是什么?不是的理由是什么?
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njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 17:19:54 | 只看該作者
本帖最后由 njlyx 于 2014-11-15 17:27 編輯
qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 16:54
看來您再不確定度評(píng)定方面有一定見解。本帖是 :論“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量” ,先不去管別的,問題一個(gè)一個(gè)地解 ...


         如果贊成史先生分“基礎(chǔ)測(cè)量”與“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”的做法(本人并不贊成),那所謂的“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”應(yīng)該是需要獲取相關(guān)“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類“統(tǒng)計(jì)特征值”的測(cè)量【可能是要獲取被測(cè)量的“標(biāo)準(zhǔn)偏差”——對(duì)于一般測(cè)量或者用“上級(jí)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量系統(tǒng)”對(duì)“下級(jí)標(biāo)準(zhǔn)量(器)”實(shí)施量傳“標(biāo)定”、“校準(zhǔn)”、“檢定”之類的“計(jì)量”;也可能是某個(gè)測(cè)量系統(tǒng)(器具)可能產(chǎn)生的測(cè)量誤差的“標(biāo)準(zhǔn)偏差”——相應(yīng)于用“標(biāo)準(zhǔn)量(器)”對(duì)“測(cè)量系統(tǒng)(器具)”實(shí)施量傳“標(biāo)定”、“校準(zhǔn)”、“檢定”之類的“計(jì)量”】,在此前提下,說“計(jì)量”是“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”或許是“對(duì)”的。


      另:即便如此分出了“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”,也免不了獲得相應(yīng)“均值”的“最佳估計(jì)值”時(shí),要考慮其“測(cè)量不確定度”的“西格瑪除以根號(hào)N”的問題!
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qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 17:39:44 | 只看該作者
njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 17:19
如果贊成史先生分“基礎(chǔ)測(cè)量”與“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”的做法(本人并不贊成),那所謂的“ ...


不必考慮太多,假定史老師的兩類測(cè)量是對(duì)的,按照其判定標(biāo)準(zhǔn),先看對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的檢定/校準(zhǔn)、計(jì)量是否為統(tǒng)計(jì)測(cè)量?請(qǐng)回答是還是不是即可。謝謝!
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njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 19:16:10 | 只看該作者
本帖最后由 njlyx 于 2014-11-15 19:19 編輯
qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 17:39
不必考慮太多,假定史老師的兩類測(cè)量是對(duì)的,按照其判定標(biāo)準(zhǔn),先看對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的 ...


抱歉!本人未從事過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的具體檢定/校準(zhǔn)工作,未知詳情,沒有發(fā)言權(quán)。
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qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 20:37:17 | 只看該作者
njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 19:16
抱歉!本人未從事過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的具體檢定/校準(zhǔn)工作,未知詳情,沒有發(fā)言權(quán)。 ...

那好,就您所從事的專業(yè),計(jì)量(檢定/校準(zhǔn))是符合1#所定義的“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”還是“基礎(chǔ)測(cè)量”?
18#
規(guī)矩灣錦苑 發(fā)表于 2014-11-16 00:09:59 | 只看該作者
史錦順 發(fā)表于 2014-11-14 18:08
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                     關(guān)于“計(jì)量是統(tǒng)計(jì)測(cè)量”的答辯(1)               
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  您不是說:若著眼點(diǎn)是手段的問題,表征量歸屬于手段,稱為基礎(chǔ)測(cè)量?;A(chǔ)測(cè)量的條件是:Δ(對(duì)象)<<Δ(手段)  (2)嗎?
  用量塊測(cè)量百分表的示值誤差本來是一個(gè)測(cè)量示例,您看成計(jì)量問題,可是我說的計(jì)量示例您還沒有回答我:用光學(xué)計(jì)檢定光滑量規(guī),光滑量規(guī)是實(shí)物量具被測(cè)量的變化Δ(對(duì)象)→0,光學(xué)計(jì)的誤差Δ(手段) 將大于Δ(對(duì)象),而不滿足公式(1) Δ(手段)<<Δ(對(duì)象),這個(gè)檢定(史老師說的計(jì)量)還能夠說是“統(tǒng)計(jì)測(cè)量”嗎?這種例子應(yīng)該是比比皆是,如何用公式(1)解釋和判定?
  既然用量塊測(cè)量百分表的示值誤差的測(cè)量示例史老師看成計(jì)量問題,那么咱們可以舉一個(gè)純測(cè)量示例,用光滑環(huán)規(guī)測(cè)量同品種相同要求的軸,環(huán)規(guī)
是實(shí)物量具,其誤差Δ(手段)→0, 被測(cè)量軸的誤差變化Δ(對(duì)象)將大于Δ(手段),而不滿足公式(2) Δ(對(duì)象)<<Δ(手段),這個(gè)測(cè)量還能夠說是“基礎(chǔ)測(cè)量”嗎?用溫度計(jì)測(cè)量今天的氣溫,溫度計(jì)是實(shí)物量具,用修正值修正后誤差Δ(手段)→0, 被測(cè)溫度的誤差變化Δ(對(duì)象)將大于Δ(手段),而不滿足公式(2) Δ(對(duì)象)<<Δ(手段),這個(gè)測(cè)量還能夠說是“基礎(chǔ)測(cè)量”嗎?
19#
winnie0109 發(fā)表于 2015-10-29 14:31:04 | 只看該作者
謝謝分享!!??!
20#
winnie0109 發(fā)表于 2015-10-29 14:31:23 | 只看該作者
謝謝分享?。。。?/td>

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