計量論壇

標(biāo)題: GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗..高低溫低氣壓試驗設(shè)備 [打印本頁]

作者: 兌水 時間: 2009-1-15 11:10
標(biāo)題: GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗..高低溫低氣壓試驗設(shè)備
【標(biāo)準(zhǔn)編號】 GB/T 5170.10-2008
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
【英文名稱】 Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products-Combined high and low temperature/low air pressure testing equipments
【發(fā)布單位】國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗總局
【批準(zhǔn)單位】國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗總局
【發(fā)布日期】 2008-06-16
【實施日期】 2009-03-01
【開本頁數(shù) 】 15P
【替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 5170.10-1996
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 2423;idt IEC 60068-2:1981
【起草單位】電子工業(yè)部第五研究所
【起草人】伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國光

GB-T 5170.10-2008.part1.rar

1000 KB, 下載次數(shù): 331, 下載積分: 金幣 -1

GB-T 5170.10-2008.part2.rar

901.81 KB, 下載次數(shù): 289, 下載積分: 金幣 -1

歡迎光臨計量論壇 (http://www.bkd208.com/)

<nav id="o2am4"></nav>