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計量論壇

標題: 大平板的局部平面度怎么檢？ [打印本頁]

作者: xiaoshaoye123 時間: 2007-7-3 17:25
標題: 大平板的局部平面度怎么檢？
大平板的局部平面度怎么檢？國家平板檢定規程上可用平面波動量判定局部平面度，怎么具體操作？

作者: hanxiang 時間: 2007-7-3 19:25
依據平板檢定規程規定要做工裝檢定

作者: zhx730621 時間: 2007-7-4 13:57
一共有三種方法：
1、局部工作面面度的測量按平板平面度測量法進行。
2、采用平面波動量判定時，將平面波動量檢具(見檢定規程附錄B)放在半板工作面上，沿任意方向移動檢具，移動距離為平扳對角線的一半且不小于200mmm觀察檢具上的指示表變化，該變化的最大值與最小值之差作為平板的平面波動量。
當平面波動量不符合規定時，在平面波動量變化最大的位置，按第一種的方法進行測量．確定該平板局部工作面平面度。
3、刮制平板采用接觸點數判定時．使用規格符合要求耍求且準確度級別不低于被板平板的研磨工具進行涂色對研。涂層厚度以(0.002～0.004)mm為宜。著色對研時，不能對研磨工具施加垂直方向的力，研磨工具不允許推出被檢平板工作面以外。當對研工具與被檢平板規格尺寸相同時，允許拖出，但不能超出自身面積的五分之一。計算刮制平板上任意一個25mm×25mm正方形內接觸點數和任意兩個25mm×25mm正方形內接觸點數之差作為測量結果。

作者: kanhao2003 時間: 2007-10-4 15:14
標題: 回復 1# 的帖子
平板國家標準的規定是比較保守的，按此操作是絕對不會出現問題的，但有些不具可操作性，比方平板的局部平面度，對于研磨面的區域平面度，完全可以不控，對于刮研平面就需要了，測波動量即可。

作者: 九江風云 時間: 2007-10-5 03:59
對于大理石平板可采用跨步儀。

作者: duomeiti 時間: 2007-10-5 14:10
采用對角線法，用電子水平儀和橋板檢定（參照JJG 117-2005 平板檢定規程）。

作者: xqbljc 時間: 2009-10-7 23:40
JJG117-2005規程規定了平板工作面平面度分成了整體平面度和局部平面度，整體平面度的檢定與1991年的規程一樣，不再多講，局部平面度是考慮到下面三個主要因素增加的：
①加工方式的缺陷（不管刮研還是研磨加工工藝均采用面積較小的研具）；
②使用中平板的不規則磨損；
③檢定方法“節距法”的不足（“節距法”只檢測了平板工作面的有限截面和有限個點，無法反映平板工作面的真實狀況）。
綜上所述，可以看出：增加局部平面度的檢定是對使用小角度儀器以“節距法”檢定平面度（整體）的補充，以更真實反映平板工作面平面度的實際狀況。增加平板局部平面度的檢定早在1990年黃山規程審定會的會議紀要中就做出了明確的說明。只是由于局部平面度與平面波動量沒有一個嚴格的數學關系，才在拖了15年，并在大量的試驗數據和參照國外標準情況下正式寫入2005年規程。盡管拖了15年，但正式將局部平面度寫入法規性的技術文件在國內依然是最早的，起碼是早于國家標準1～3年。
平板局部平面度的檢定應該講與平板整體平面度的檢定是一樣的，包括步線布點的方式和評定基準位置的確定。但考慮到平板應該有無數個小的局部面積區域，所以其可操作性有一定的問題。為此，在大量試驗的基礎上，參照國際標準和美國、英國標準，用變通的方法，即通過檢測平板工作面任意位置的平面波動量（或稱曲率變化）來控制平板的局部平面度。在JJG117-2005規程規附錄B中，給出了平面波動量檢具的圖紙，這與國際標準中的圖紙是一樣的。通過平面波動量檢具的圖紙可以看出，所檢測的平面波動量實際上就是一個活動測頭相對于由三個固定測頭構成的小平面內的高度差變化，大量的試驗數據說明，此高度差變化與局部平面度有一定的關系，而且是放大的關系，所以通過檢測平面波動量（或稱曲率變化），完全可以反映平板的局部平面度，當然當平面波動量不符合規定時，在平面波動量變化最大的位置，應該按整體平面度的檢定方法進行測量，以最終確定該平板局部工作面平面度。
至于平面波動量的檢測方法，在JJG117-2005規程中，已經說的很清楚了，在此就不再細講了。我只是想將增加平板局部平面度的檢定的來龍去脈告訴大家，感興趣的同志不妨在平常的檢定工作中作一下試驗，看局部平面度與平面波動量究竟是一個什么關系，這也是一種計量檢定知識的積累嗎。

1# xiaoshaoye123

作者: sgtapple 時間: 2011-7-20 22:24
學習了收藏一下慢慢看

作者: sgtapple 時間: 2011-7-20 22:24
學習了收藏一下慢慢看。。

作者: 長度室 時間: 2011-7-28 14:09
長知識了，謝謝xqbljc 的講解，學習中。

作者: xqbljc 時間: 2011-7-28 14:48
回復 4# kanhao2003

4樓談到“平板的局部平面度，對于研磨面的區域平面度，完全可以不控，對于刮研平面就需要了，測波動量即可”。
上述說法，應該講是對采用研磨工藝加工生產的平板情況是不了解的。我們知道，采用研磨工藝加工生產平板，早已脫離了三塊對研的模式，也就是講是采用相對較小的研具來研大平面，再者，檢測方法的缺陷，只檢了有限個截面，漏檢的位置比較多，還有使用中的局部磨損問題，所以對于采用研磨工藝加工生產的平板也是要考慮局部平面度檢定的。

作者: jsyzwgh 時間: 2012-2-8 07:49
見JJG117-2005附錄B

作者: mljiliangke 時間: 2012-10-30 10:35
學習了，長見識了

作者: xy20080100 時間: 2013-10-10 15:27
例如我檢了一個800*500的平板，符合1級，那么平面度最大允許誤差是16μm，但局部的允許誤差應該是多少？如果這個平板符合3級，平面度最大允許78μm，那局部又是多少呢，請教。謝謝！

作者: xqbljc 時間: 2013-10-10 17:24
回復 14# xy20080100

按照JJG117-2005規程，平板工作面的局部平面度是指任意300×300mm面積內的平面度。準確度為1級的800×500mm平面度最大允許誤差是16μm，則其局部平面度為相應準確度1級的300×300mm面積內的平面度，應該為12μm；準確度為3級的800×500mm平面度最大允許誤差是78μm，則其局部平面度為相應準確度3級的300×300mm面積內的平面度，由于規程表1中，400×400mm以下規格平板沒有準確度3級的平面度最大允許誤差要求，這就是講，小規格平板不做為劃線平板來使用，應該講這是規程不夠合適的地方，建議暫先按40×（1+d/1000）來給以計算，則其局部平面度應該為38μm。

JJG117-2013規程將在明年開始施行，不知道在這些方面是否能修改的更合適一些，畢竟平板的準確度等級劃分、平面度數值計算公式、以及局部平面度按250×250mm面積來控制了，應該都有較大的改動，寄托個希望吧。

作者: 鉑電阻 時間: 2013-10-26 10:00
很好，學習了

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