計(jì)量論壇

標(biāo)題: 粗糙度有垂直讀數(shù)的儀器嗎？ [打印本頁]

作者: springmiky 時(shí)間: 2009-1-13 16:13
標(biāo)題: 粗糙度有垂直讀數(shù)的儀器嗎？
請(qǐng)問現(xiàn)在測(cè)量粗糙度，有垂直方向?qū)Σǚ宀ü葘?duì)焦的儀器么？
以前的光切法顯微鏡是45度角入射。。。。

有直接對(duì)焦在波峰的點(diǎn)端，和波谷的低點(diǎn)位置，然后讀數(shù)得儀器嗎？

作者: 規(guī)矩灣錦苑 時(shí)間: 2009-1-13 16:42
表面粗糙度測(cè)量?jī)x測(cè)量的數(shù)值都是微觀波峰波谷的變化，無非是因?yàn)閿?shù)據(jù)處理的方法不同得到的表面粗糙度參數(shù)值就不同。一般表面粗糙度測(cè)量?jī)x都是直接給出經(jīng)過數(shù)據(jù)處理后的測(cè)量結(jié)果。高級(jí)的表面粗糙度測(cè)量?jī)x（價(jià)格可能要在數(shù)十萬元）可以保留未經(jīng)數(shù)據(jù)處理的測(cè)量原始數(shù)據(jù)，可以從原始測(cè)量數(shù)據(jù)中分析波峰的頂端，和波谷的低點(diǎn)位置。在購(gòu)買儀器時(shí)，甚至可以向生產(chǎn)廠家提出保留原始數(shù)據(jù)的功能要求。如果你只要求波峰的頂端和波谷的低點(diǎn)位置的差值，很多表面粗糙度測(cè)量?jī)x都有測(cè)量Rmax的功能。

作者: springmiky 時(shí)間: 2009-1-17 14:34
謝謝，還是不明白。
現(xiàn)在Rz定義就是波峰最高和波谷最低點(diǎn)的差值，所以，如果有這樣的設(shè)備，讀數(shù)不是更方便？不是更應(yīng)該普及？能說具體設(shè)備名字么？

作者: 規(guī)矩灣錦苑 時(shí)間: 2009-1-17 20:42
Rz和Rmax定義是不同的，呵呵。幾乎所有萬元以上的表面粗糙度測(cè)量?jī)x都可以檢測(cè)Rz和Rmax。

作者: 菜根談 時(shí)間: 2009-1-17 21:02
去供應(yīng)商廠家看過一種測(cè)量面粗度的設(shè)備，類似于高度尺，打印結(jié)果有Ra，Rz，Ry三個(gè)值。看上去使用起來挺方便的。

作者: 粗糙度CC 時(shí)間: 2009-1-29 21:13
現(xiàn)在單位的東京精密的粗糙度儀可以顯示很多參數(shù)，也可以選擇評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)ISO有好幾個(gè)版本還有日本德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)

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