計量論壇

標(biāo)題: GB/T 14030-92半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理 [打印本頁]

作者: woshi_tjy 時間: 2009-1-12 19:16
標(biāo)題: GB/T 14030-92半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理
【標(biāo)準(zhǔn)編號】 GB/T 14030-92
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理
【英文名稱】 General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
【發(fā)布單位】國家技術(shù)監(jiān)督局
【批準(zhǔn)單位】國家技術(shù)監(jiān)督局
【發(fā)布日期】 1992-12-18
【實施日期】 1993-8-1
【開本頁數(shù) 】 12P
【起草單位】上海元件五廠
【起草人】王慶光; 劉國榮

BZ002025200.pdf

201.84 KB, 下載次數(shù): 14, 下載積分: 金幣 -1

歡迎光臨計量論壇 (http://www.bkd208.com/)