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標(biāo)題: GB/T 4937-1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 [打印本頁(yè)]

作者: woshi_tjy 時(shí)間: 2008-12-27 21:27
標(biāo)題: GB/T 4937-1995半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
【標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 4937-1995
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
【英文名稱】 Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
【發(fā)布單位】國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【批準(zhǔn)單位】國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【發(fā)布日期】 1995-12-22
【實(shí)施日期】 1996-8-1
【開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 34P
【替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 4937-86
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 2421-89; GB 2423; GB 2424; GB 5169.5-82; IEC 747; IEC 748
【采用關(guān)系】 IEC 749-1984,IDT
【起草單位】上海市電子儀表標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量測(cè)試所; 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【起草人】倪月琴; 王長(zhǎng)福

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