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標(biāo)題: GB/T 5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 [打印本頁(yè)]

作者: woshi_tjy 時(shí)間: 2008-12-26 16:59
標(biāo)題: GB/T 5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
【標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 5170.9-1996
【標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng) 】電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽(yáng)輻射驗(yàn)設(shè)備
【英文名稱(chēng) 】 Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products Solar radiation testing equipments
【發(fā)布單位】國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【批準(zhǔn)單位】國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
【發(fā)布日期】 1996-6-17
【實(shí)施日期】 1997-7-1
【開(kāi)本頁(yè)數(shù) 】 7P
【替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 5170.9-85
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 5170.1-1995; GB/T 5170.2-1996; GB/T 2423.24-1995
【起草單位】電子工業(yè)部第五研究所
【起草人】付文茹; 謝建華; 陳學(xué)進(jìn); 王則燕; 薛振夷

BZ002008761.PDF

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