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標(biāo)題: GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法 [打印本頁]

作者: woshi_tjy 時間: 2008-12-20 15:01
標(biāo)題: GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法
【標(biāo)準(zhǔn)編號】 GB/T 16594-1996
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】微米級長度的掃描電鏡測量方法
【英文名稱】 Micron grade lenght measurement by SEM
【發(fā)布單位】國家技術(shù)監(jiān)督局
【批準(zhǔn)單位】國家技術(shù)監(jiān)督局
【發(fā)布日期】 1996-11-4
【實施日期】 1997-4-1
【開本頁數(shù) 】 5P
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 JJG 550-88
【起草單位】上海市測試技術(shù)研究所; 中國船舶總公司725研究所
【起草人】張訓(xùn)彪; 徐國照; 高文華

BZ002023446.pdf

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