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標(biāo)題: GB/T 17473.5-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 [打印本頁]

作者: woshi_tjy 時間: 2008-11-29 10:18
標(biāo)題: GB/T 17473.5-1998 厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法
【標(biāo)準(zhǔn)編號】 GB/T 17473.5-1998
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定
【英文名稱】 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of viscosity
【發(fā)布單位】 SBTS
【批準(zhǔn)單位】國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
【發(fā)布日期】 1998-8-19
【實(shí)施日期】 1999-3-1
【開本頁數(shù) 】 3P
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 8170-87
【采用關(guān)系】 ISO 3219-1993,REF; ASTM D2196-1986,REF
【起草單位】昆明貴金屬研究所

bz001013030.pdf

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