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計(jì)量論壇

標(biāo)題: GB/T 17626.1-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論 [打印本頁]

作者: woshi_tjy 時(shí)間: 2008-11-23 17:44
標(biāo)題: GB/T 17626.1-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論
【標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 17626.1-1998
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論
【英文名稱】 Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Overview of immunity tests
【發(fā)布單位】 SBTS
【批準(zhǔn)單位】國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
【發(fā)布日期】 1998-12-31
【實(shí)施日期】 1999-12-1
【開本頁數(shù) 】 49P
【替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 13926.1-1992
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 4365-95 etc.; GB/T 813-89
【采用關(guān)系】 IEC 61000-4-1-1992,IDT
【起草單位】機(jī)械工業(yè)部上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所

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