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標(biāo)題: JB/T 8554-1997 氣相沉積薄膜與基體附著力的劃痕試驗法 [打印本頁]

作者: 兌水 時間: 2008-8-7 14:47
標(biāo)題: JB/T 8554-1997 氣相沉積薄膜與基體附著力的劃痕試驗法
【標(biāo)準(zhǔn)編號】 JB/T 8554-1997
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】氣相沉積薄膜與基體附著力的劃痕試驗法
【發(fā)布單位】中華人民共和國機械工業(yè)部
【批準(zhǔn)單位】中華人民共和國機械工業(yè)部
【發(fā)布日期】 1997-4-15
【實施日期】 1998-1-1
【開本頁數(shù) 】 6P
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 6463-86; GB/T 2848-92; GB/T 4342-92; JB/T 7505-94; JB/T 7707-95
【起草單位】中國科學(xué)院蘭州化學(xué)物理研究所; 大連理工大學(xué)
【起草人】于德洋; 翁立軍; 王茹; 汪曉萍; 畢敏奇

BZ002002869.pdf

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