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標(biāo)題: SJ/T 11222-2000集成電路卡通用規(guī)范第3部分:測(cè)試方法 [打印本頁(yè)]

作者: woshi_tjy 時(shí)間: 2008-7-16 19:22
標(biāo)題: SJ/T 11222-2000集成電路卡通用規(guī)范第3部分:測(cè)試方法
【標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 SJ/T 11222-2000
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】集成電路卡通用規(guī)范第3部分:測(cè)試方法
【英文名稱】 General specification for Integrated circuit cards Part 3:Test methods
【發(fā)布單位】中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【批準(zhǔn)單位】中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【發(fā)布日期】 2000-5-30
【實(shí)施日期】 2000-10-1
【開本頁(yè)數(shù) 】 58P
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 131-93; GB/T 1690-92; GB/T 3922-1995; SJ/T 11220-2000; ISO/5-1:1984; ISO/5-2:1991; ISO/5-3:1984; ISO/IEC 7810:1995; ISO/IEC 7811-1:1995; ISO/IEC 7811-2:1995; ISO/IEC 7811-6:1996; ISO/IEC 7813:1995; ISO/IEC 7816-2:1998; ISO 9277:1990; ISO/IEC 10536-1:1992; ISO/IEC 1443-1:1997
【起草單位】中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【起草人】蔡懷忠; 馮敬; 黃家英; 李韻琴; 陳云峰; 金倩

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