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標(biāo)題: SJ/T 10804-2000半導(dǎo)體集成電路電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理 [打印本頁(yè)]

作者: woshi_tjy 時(shí)間: 2008-7-16 17:55
標(biāo)題: SJ/T 10804-2000半導(dǎo)體集成電路電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理
【標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 SJ/T 10804-2000
【標(biāo)準(zhǔn)名稱】半導(dǎo)體集成電路電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理
【英文名稱】 Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for level translator
【發(fā)布單位】中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【批準(zhǔn)單位】中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【發(fā)布日期】 2000-12-28
【實(shí)施日期】 2001-3-1
【開本頁(yè)數(shù) 】 35P
【替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 6797-86
【引用標(biāo)準(zhǔn) 】 SJ/T 10734-96
【起草單位】中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【起草人】李燕榮

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