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表面粗糙度，是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷不平度，其兩波峰或兩波谷之間的距離（波距）很?。ㄔ?mm以下），它屬于微觀幾何形狀誤差。表面粗糙度越小，則表面越光滑。

在常規工業加工領域中，Ra是常用的表面粗糙度評定參數，其定義為在取樣長度L內，輪廓偏距的絕對值的算術平均值。

隨著工業制造越來越精密化，特別是半導體和3C電子行業，傳統的粗糙度評定為二維參數評定，評定的時候在一條線上進行評定，不能夠完整地反映整個表面的全部信息，無法滿足行業發展需求。

表面形貌的三維評定方法是利用區域表面獲得所需要的相關信息，給出表面形成機理信息和研究表面的直觀圖像，三維評定從整體上對零件表面特征進行描述，具有全局性。Sa為常用的三維表面粗糙度評定參數。

Sa為表面算術平均高度，指輪廓表面內的點與中心面距離的算術平均或幾何平均值，在取樣區域D上，被測量的輪廓面和建立的基準面之間的z坐標距離的算術平均，即表面粗糙度曲面方程z坐標絕對值的算術平均，數學表達式如下。

中圖儀器擁有豐富多樣的粗糙度測量解決方案，可滿足各行業測量需求。

SJ5760-R大量程粗糙度測量儀Z0軸行程±20μm~±400μm，粗糙度測量范圍Ra0.1μm~Ra64μm，可進行R參數、P參數、W參數、Motif參數等多種參數評定，應用非常廣泛。

SJ5730高精度粗糙度輪廓測量儀一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數，具有14mm大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達到次納米級，系統殘余誤差極?。?lt;2nm），非常適合測量大曲面（軸承、關節、精密模具、齒輪、葉片、非球面）的超高精度表面粗糙度及微觀Pt輪廓。

SuperView W1光學3D表面輪廓儀，以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造等領域，可測從納米到微米級別工件的粗糙度。

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