計量論壇

標題: 如何用非接觸式光學3D測量系統，檢測GD&T、缺陷和粗糙度 [打印本頁]

作者: 馳豐精密 時間: 2021-2-2 09:43
標題: 如何用非接觸式光學3D測量系統，檢測GD&T、缺陷和粗糙度

基于光纖的低相干輪廓儀（與類似顯微鏡的輪廓儀不同），適合在QA實驗室和生產環境中獲取形貌信息（圖1）。他們以微米級精度，以1-30 kHz的高速度和更快的速度獲取較長剖形面的表面數據。他們的非接觸式探頭（圖2），探針的工作距離從30-150 mm，可放置在距離輪廓儀機箱很遠的地方進行檢測。在生產線上，它們可以安裝在滑軌上，以便沿網絡生產線上進行掃描。探頭小巧堅固，可承受惡劣環境，如輻射，高溫或極寒。

低相干干涉儀是一種光學裝置，它將紅外范圍1300nm的寬帶光源分成兩個獨立的光束。一個光束指向物體表面，另一個光束指向干涉儀中參照物的一面鏡子。探頭接收并重新組合來自樣品和參照物的反射光，并記錄所產生的干涉，從中可以檢索到有關物體的各種信息：其表面形狀，粗糙度和波紋，以及單層或多層涂層厚度。

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作者: songshuecho 時間: 2021-2-2 13:43
您好，請教您下，應用該款儀器是不是就可校準橘皮儀的標準板了？

作者: 馳豐精密 時間: 2021-2-5 10:12
本帖最后由馳豐精密于 2021-2-5 10:22 編輯

songshuecho 發表于 2021-2-2 13:43
您好，請教您下，應用該款儀器是不是就可校準橘皮儀的標準板了？

你好，不太了解你說的儀器。我們這款設備主要是利用低相干干涉技術，檢測工件外表面，內腔，尤其是長管件缸體噴油嘴等內腔尺寸，缺陷和粗糙度。

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