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標(biāo)題: 天線高度引起的EMC測(cè)試結(jié)果不確定度分析 [打印本頁]

作者: csxfjsw123 時(shí)間: 2008-1-22 19:34
標(biāo)題: 天線高度引起的EMC測(cè)試結(jié)果不確定度分析
天線高度引起的EMC測(cè)試結(jié)果不確定度分析

[摘要]
本文以點(diǎn)輻射源為例,詳細(xì)分析了在半電波暗室內(nèi)進(jìn)行電磁騷擾輻射發(fā)射測(cè)試時(shí),由于接收天線高度的不準(zhǔn)確性帶來的測(cè)試結(jié)果的不確定度.結(jié)果說明該不確定度來源于半電波暗室的固有缺陷.另外,本文還對(duì)于實(shí)際測(cè)試中需要注意的方面給出了建議.
[關(guān)鍵詞]
不確定度,電磁輻射,接收天線,天線高度,發(fā)射騷擾測(cè)試
[作者]
譚海峰, 北方交通大學(xué); 劉萍, 北方交通大學(xué); 沙斐, 北方交通大學(xué)
[會(huì)議名稱]
2002年全國電子測(cè)控工程學(xué)術(shù)年會(huì)
[會(huì)議時(shí)間]
20021013
[會(huì)議地點(diǎn)]
武夷山
[主辦單位]
中國電子學(xué)會(huì)%中國儀器儀表學(xué)會(huì)
[會(huì)議分類]
無線電電子學(xué)、電信技術(shù)
自動(dòng)化技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)

[母體文獻(xiàn)]
電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào) 2002增刊
[出版單位]
中國電子學(xué)會(huì)
[出版地]
北京
[出版時(shí)間]
20021001
[頁碼]
812-817
[注釋項(xiàng)]

[分類]
無線電電子學(xué)、電信技術(shù)
自動(dòng)化技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)

[密級(jí)]

[館藏號(hào)]
H047236

天線高度引起的EMC測(cè)試結(jié)果不確定度分析.pdf

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