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標(biāo)題: 一種測(cè)量光學(xué)玻璃應(yīng)力的光譜方法 [打印本頁(yè)]

作者: 八一八 時(shí)間: 2011-12-19 11:20
標(biāo)題: 一種測(cè)量光學(xué)玻璃應(yīng)力的光譜方法
姚文卿[1] 董良威[1] 鄔華芝[2]
[1]常州工學(xué)院電子信息與電氣工程學(xué)院,江蘇常州213002 [2]常州工學(xué)院光電工程學(xué)院,江蘇常州213002
摘　要:光學(xué)玻璃的應(yīng)力使其出現(xiàn)雙折射性質(zhì),嚴(yán)重影響成像質(zhì)量和導(dǎo)致波面形變,因此需要進(jìn)行精確定量的測(cè)量。為了滿足高精度玻璃應(yīng)力測(cè)量的需求,文章提出了一種測(cè)量應(yīng)力的新方法：在光譜掃描法測(cè)量系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,加入半波片作為延遲量基準(zhǔn),根據(jù)插入被測(cè)玻璃前后延遲量的變化,精確、定量地得到被測(cè)玻璃的應(yīng)力。實(shí)驗(yàn)測(cè)量了1塊立方體玻璃不同區(qū)域的應(yīng)力。分析表明,光譜掃描精度為0.25nm時(shí),系統(tǒng)測(cè)量誤差小于0.4nm。[著者文摘]

一種測(cè)量光學(xué)玻璃應(yīng)力的光譜方法.rar

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作者: liyuanyao1984 時(shí)間: 2016-8-16 16:00
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