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光學儀器專業知識試題

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一，填空題（每題2分，共20分）

1，阿貝原則是指測量軸線在            上。根據這一原則，判別萬能工具顯微鏡是否符合？        。

2，投影儀光路的基本原理是由照明系統和投影系統兩部分組成。而照明系統是由               組成，投影系統是由                               組成。

3，光學計的結構原理是光學

和          正切原理的組合。

4，光學分度頭的示值誤差，主要由                 和                  組成。

5，投影儀的放大倍數的正確性，對于影屏不大于Φ600mm的，不超過       ；對于影屏大于Φ600mm的，不超過       。

6，無論立式光學計還是臥式光學計，其示值誤差在±60μm范圍內不超過       ，超過±60μm范圍的不超過         。

7，光學儀器中的物鏡或目鏡，其中心稱       ，焦點到光心的距離為

。

8，投影儀放大倍數的正確性，是采用檢定極限誤差不超過±0.5μm的
和示值誤差不超過0.03mm的
檢定。

9，工具顯微鏡的光學定位器，檢定或使用時，在主顯微鏡上所要安裝的物鏡，其放大倍數為
。

10，工具顯微鏡的示值誤差要求不超過
。

二，選擇題（每題2分，共20分）

1，光學計的準直目鏡屬于
。

（1）高斯式目鏡。（2）阿貝式目鏡。（3）雙分劃板式目鏡。

2，立式光學計示值誤差用量塊檢定時，需要借助瑪瑙工作臺或三珠工作臺進行，其目的是
。

（1）
防止量塊工作面被損傷；（2）消除量塊彎曲影響；（3）便于操作提高效率；

3，工具顯微鏡的光軸，頂針軸線和立柱回轉軸線相對位置用十字線心軸檢定時，使立柱向左和向右擺動，出現十字線心軸的十字線象隨著向左和向右偏移，引起這一現象的原因是
。

（1）
立柱回轉軸線低于頂針軸線。（2）頂針軸線低于立柱回轉軸線。（3）光軸不通過立柱回轉軸線。

4，臥式光學計在檢定示值誤差之前，需要將安裝在測量桿上的球面測帽調整至正確狀態，欲知達到正確狀態需看儀器的示值處于
。

（1）最小值；
（2）最大值；
（3）一方位上最大值，另一方位最小值；

5，大小型工具顯微鏡，其主顯微鏡的鏡筒移動方向與工作臺面的垂直度不超過
。

（1）
2′或0.010mm/16mm；
（2）3′或0.014mm/16mm；（3）5′或0.023mm/16mm；

6，某一儀器的工作面的平面度，若在白光情況下用平晶以技術光波干涉法檢定時，受檢工作臺面的平面度一般不大于
。

（1）0.001mm；
（2）0.002mm；
（3）0.003mm；

7，光學分度頭的主軸錐孔或頂尖的軸線偏移主軸回轉軸線E情況下，對被測半徑R引起的最大角度誤差為
。

  （1）                   （2）                      （3）

8，對于凹透鏡的成象，如果虛物點在主點到焦點之間，象點在主點到無窮遠之間，則成         。

（1）
倒立的虛象； （2）放大的正立實象；（3）縮小的正立虛象；

9，工具顯微鏡的測量刀分為平刀口和斜刀口兩種，其中斜刀口的測量刀是用于       。

（1）
測量圓錐體的直徑和錐度；（2）測量螺紋中徑和螺距；（3）測量圓柱體的直徑；

10，游標讀數機構的刻度，當分度值為I，模數γ=2時，則主尺的刻線間距a和副尺（游標）刻線間距b的關系為           。

  （1）b=γa-i
（2）a=γb-i
（3）b=γa