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計量論壇

標題: 涂層測厚儀校正方法 [打印本頁]

作者: danni 時間: 2011-4-23 14:11
標題: 涂層測厚儀校正方法
哪位大俠有涂層測厚儀校正方法，謝謝

作者: liuyajun 時間: 2011-4-23 14:26
一般有零點校正和多點校準兩種方法

作者: nmzzcd 時間: 2011-5-4 23:11
查看JJG818-2005磁性、電渦流式覆層測厚儀檢定規程。
還有，一般測厚儀的說明書上都會寫儀器的校準方法。因為不知道你的測厚儀的型號規格，這里我給你一份TT220測厚儀的儀器校準方法。
為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。
一、校準標準片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。
1．校準箔
對本儀器“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。
2．有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于本儀器，覆蓋層應是非磁性的。
二、基體
1．對于本儀器標準基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
　　為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體與待測試件基體上所測得的讀數進行比較。
2．如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數表中所規定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：
1）在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標準片上校準；
2）用一足夠厚度的，電學或磁學性質相似的金屬襯墊標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
3．如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。
三、校準方法
本儀器有兩種測量中使用的校準方法：零點校準和二點校準。還有一種針對測頭的基本校準。
1．零點校準
a．在基體上進行一次測量，儀器顯示　×.×μm　。
b．按一下“ON/C”鍵，屏顯　0.00μm　即完成零點校準。
c．要準確地校準零點，須重復上述a、b以獲得基體測量值小于1μm，這樣有利于提高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。
2．二點校準
a．先校零點（見上）。
b．在厚度大致等于預計的待測覆蓋層厚度標準片上進行一次測量，屏幕顯示
　×××μm　。
c．用▲或▼鍵修正讀數，使其達到標準片上的標稱值。校準已完成，可以開始測量了。如欲較準確地進行二點校準，可重復b、c過程，以提高校準的精度，減少偶然誤差。
3．在噴沙表面上的校準
噴沙表面的特性導致了測量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
a．儀器要用三、1.或三、2.的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準好。
b．在未涂覆的經過同樣噴沙處理的表面測量10次左右，得到平均值Mo。
c．然后，在已涂覆的表面測量10次得到平均值Mm。
d．（Mm-Mo）±S即是覆蓋層厚度。其中S（標準偏差）是SMm和SMo中較大的一個。
4．儀器的基本情況
在下述情況下，改變基本校準是有必要的：
――測頭頂端被磨損；
――測頭修理后；
――特殊的用途
在測量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則對測頭的特性重新進行校準，稱為基本校準。
通過輸入6個校準值（一個零值和五個厚度值）可重新校準測頭。
基本校準方法如下：
a．在儀器關閉狀態下按住▼鍵再按“ON/C”鍵開機，隨著一聲鳴響即進入基本校準方式。屏幕顯示如下　B-Calibrate　。
b．先校零值（見零點校準）。可連續重復多次，以獲得一個多次校準的平均值，這樣可提高校準的準確性。
c．使用標準片，按厚度增加的順序做五個厚度的校準（見二點校準中的b、c）。每個厚度應至少是上一個厚度的1.6倍以上，理想的情況是2倍。例如：50、100、200、400、800μm。最大值應接近、但低于測頭的最大測量范圍。

作者: stoney 時間: 2011-5-6 10:44
一般用校準標準片

作者: 深水炸彈 時間: 2011-6-7 19:54
什么牌子的，國產的網上有。

作者: danni 時間: 2011-6-28 18:45
謝謝了，已經知道怎么校準了。我們公司有2個國產，另2個是飛希爾的

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