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計(jì)量論壇

標(biāo)題: 采點(diǎn)、壓線時(shí)，如何選擇？？？？？？ [打印本頁]

作者: 韓小露 時(shí)間: 2010-10-8 20:36
標(biāo)題: 采點(diǎn)、壓線時(shí)，如何選擇？？？？？？
我是剛參加工作的計(jì)量員，在使用光學(xué)投影的儀器采點(diǎn)或壓線時(shí)，遇到的問題是：
將被測零件轉(zhuǎn)動(dòng)不同角度后，測得的結(jié)果有偏差，那么該怎么確認(rèn)結(jié)果？

作者: davidow 時(shí)間: 2010-10-8 22:51
不轉(zhuǎn)時(shí)多次測量，看重復(fù)性如何，以便練習(xí)采點(diǎn)、壓線的技巧。
技巧好了，如果工件轉(zhuǎn)了，值就變了，可能是工件的問題，取平均。或考慮所有值均不超差。

作者: 韓小露 時(shí)間: 2010-10-9 20:18
回復(fù) 2# davidow

哦謝謝！
那如果被測表面粗糙，有高點(diǎn)和低點(diǎn)，可以用萬工顯壓線測量嗎？若可以，應(yīng)壓在哪個(gè)位置呢？高點(diǎn)、低點(diǎn)、還是取中間位置呢？
若用TESA VISIO DCC那種光學(xué)投影的儀器，采點(diǎn)測試時(shí)通常會(huì)得到實(shí)際的輪廓曲線（高低不平的），這樣測得的直線準(zhǔn)確嗎？

作者: davidow 時(shí)間: 2010-10-9 22:19
理論上說，邊緣不直時(shí)，壓線應(yīng)確定方向，使平行于刻線的包容被測邊的兩條平行線之間的距離最小。而刻線與邊相交的位置，可以根據(jù)被測件的設(shè)計(jì)選用最大、最小或平均位置。
現(xiàn)代光學(xué)儀器采用成像元件進(jìn)行數(shù)字化處理。輪廓線的彎曲是將圖像二值化造成的。最終計(jì)算還要進(jìn)行擬合，通常使用最小二乘法。應(yīng)該比傳統(tǒng)儀器受人為因素影響小一些。重復(fù)性或復(fù)現(xiàn)性好一些。

作者: 蕭揚(yáng) 時(shí)間: 2010-10-10 12:59

回復(fù) davidow

哦謝謝！
那如果被測表面粗糙，有高點(diǎn)和低點(diǎn)，可以用萬工顯壓線測量嗎？若可以 ...
韓小露發(fā)表于 2010-10-9 20:18

對于粗糙表面的測量，要結(jié)合工件的實(shí)際運(yùn)用情況，比如使用時(shí)表面無較大磨損的，應(yīng)壓高點(diǎn)，否則，應(yīng)在檢測報(bào)告中注明表面情況及測量結(jié)果對應(yīng)的壓點(diǎn)位置。

作者: zhilingbaozhen 時(shí)間: 2010-10-26 12:37
多次測量取平均值

作者: langzi 時(shí)間: 2011-4-24 14:22
將被測零件轉(zhuǎn)動(dòng)不同角度后，測得的結(jié)果有偏差,
可能是平臺(tái)X,Y軸不垂直

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