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標題: JJF 1179-2007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準規(guī)范 [打印本頁]

作者: scshwy 時間: 2007-11-6 11:21
標題: JJF 1179-2007 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準規(guī)范
【標準編號】 JJF 1179-2007
【標準名稱】集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)校準規(guī)范
【英文名稱】 C.S. of High Temperature Dynamic IC Burn-in System
【發(fā)布單位】國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局
【批準單位】國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局
【發(fā)布日期】 2007-6-14
【實施日期】 2007-9-14
【開本頁數(shù) 】 10P
【替代標準】 /
【起草單位】信息產業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所
【起草人】王酣吳京燕陳大為郭守君

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