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計量論壇

標題: 今天遇到的1810光譜掃描的怪現象 [打印本頁]

作者: porny 時間: 2010-4-7 16:46
標題: 今天遇到的1810光譜掃描的怪現象
今天在一個單位檢測北京普析公司生產的一臺1810型紫外可見分光光度計，在進行光譜掃描的時候，出現了一些情況。掃描的條件設置如下：范圍810~400nm,掃描間隔0.5nm，中速，在掃描到600多nm及以后的時候，出現一系列緊密排列的十分高的吸收峰，高的可以到達20多abs，同樣的情況發生在掃描范圍700~230nm的條件下（其他掃描條件沒變）。但是，當把掃描范圍設置為400~230nm以及810~400nm進行掃描時（間隔及掃描速度等條件同上，均未變），一切正常。
但是在檢測該公司生產的紫外可見的時候，從來沒有遇到過。
各位有遇到這種現象的嗎？討論討論？

作者: vandyke 時間: 2010-4-7 18:29
我在測截止濾光片吸光度光譜時也碰到類似情況。所謂一系列密集排列十分高的吸收峰，倒不如說就是偽信號，就是異常噪聲。因為儀器不能可檢測到20Abs的吸光度，目前國際上商業用最頂級的分光也就標稱能測量8Abs，出現20多Abs只能是偽信號。當時我估計是吸光度太大時，儀器的光電倍增管會加大放大增益，從而導致噪聲急劇增加，為信號可能是劣化的噪聲信號；也可能是測量數據超出軟件的處理范圍，溢出的信號就是偽信號。

至于你的情況有所不同，全當拋磚引玉。

首先不知道你是做基線掃描還是掃描濾光片。其次一般從高波往低波掃，若反過來，數據有可能不正確（軟件原因）。看你的描述似乎是分段掃描就不出現這種情況，當全譜掃描就出現是不是？

作者: porny 時間: 2010-4-8 07:02
本帖最后由 porny 于 2010-4-8 07:06 編輯

是掃描濾光片，分別掃描的鐠釹和氧化鈥。
前面有點錯誤，其中第二次掃描鐠釹的范圍從從810到500nm左右。兩次掃描的范圍不一樣

作者: 阿拉丁 時間: 2010-4-12 13:05
應該做基線校正在試試

作者: porny 時間: 2010-4-13 08:00
先進行的基線校準。

作者: czy92326 時間: 2010-4-16 11:38
我碰到過類似情況，掃描氧化鈥濾光片的時候，出現許多不正常的吸收峰，密密麻麻，原因是基線沒有走，走一遍基線就正常了

作者: porny 時間: 2010-4-19 10:11
在之前，先做的基線校準。從理論上來說，就算不做基線掃描，也只是會產生一些誤差，但是，這種誤差不應該產生是這樣的“偽信號”吧？

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