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計量論壇

標題: 請教關于平面平晶的問題 [打印本頁]

作者: jojo 時間: 2009-12-22 23:36
標題: 請教關于平面平晶的問題
平面度的公式是F=a/b×(λ/2)-△F 如果該平晶判定為凸，但[a/b×(λ/2)]＜△F，即F＜0，這時平晶的平面度應該多少？-F？還是判定為凸的？

作者: xqbljc 時間: 2009-12-23 00:08
本帖最后由 xqbljc 于 2009-12-23 00:21 編輯

此問題前后矛盾；
   第一個問題的答案：平晶的平面度=F的絕對值（理由：平面度的定義）；
   第二個問題的答案：不好下結論。因為問題的前面講“如果該平晶判定為凸”，那么后面就不應出現(xiàn)F＜0，這屬于前后矛盾。
   （糾正一點：根據(jù)通常用法，a/b×(λ/2)是否應改為b/a×(λ/2)，也就是講b為干涉條紋的彎曲量，a為干涉帶間的距離，所以，提問題應嚴謹。）

作者: jojo 時間: 2009-12-23 10:11
感謝你的回答和建議，剛剛接受平面平晶的檢定工作，公式不是很熟，下次一定注意。。。
現(xiàn)在我這邊的問題主要是等厚干涉儀成像質量有問題，對規(guī)程又不是很熟悉，暫時又沒人指導，所以一個頭兩個大 - -b

我不知道我理解的對不對，請各位前輩指教：
1、平面度F=│[b/a×(λ/2)]-)-△F│；
2、對于判定的問題是依據(jù)JJG28-2000附錄D中D.3的方法判定。

作者: xqbljc 時間: 2009-12-23 12:15
回復 3# jojo

   等厚干涉儀一般情況下成像質量不應有問題，估計是儀器的調整或光源部分沒有做到最好，干涉帶邊緣不是很清晰，應該是正常現(xiàn)象。另外注意調整后干涉帶應該是3或5條，而非3～5條，也就是講保證視場的中央有一條。再者應注意溫度變化和平衡溫度的時間，溫度對檢定結果影響是比較大的，標準平晶的修正量△F和F96計算問題，請看一下http://www.bkd208.com/thread-133030-1-2.html
   規(guī)程中附錄D中D.2平面度F的大小：F=b/a×(λ/2)，此處的F應理解為標準平晶平面度（△F）和被檢工作平晶平面度的二者疊加值，被檢工作平晶平面度應為F=│[b/a×(λ/2)]-△F│，估計你所談到的公式1、平面度F=│[b/a×(λ/2)]-)-△F│，是筆下誤。
   對規(guī)程的理解不一定對，供參考。新的平晶規(guī)程已審定，我已看到征求意見稿，應該講改動不大。
   你的理解刨除公式中的筆下誤，應該講是正確的。

作者: jojo 時間: 2009-12-23 21:20
恩，多謝幫助~

作者: qc02071402 時間: 2010-9-1 15:07
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作者: zhilingbaozhen 時間: 2010-9-1 18:25
平面度不可能有負值，

作者: xqbljc 時間: 2010-9-2 14:47
回復 6# qc02071402

談不上請教，我們共同探討交流。
如果在等厚干涉儀目鏡里觀察到被檢平面平晶呈封閉式干涉環(huán)條紋狀，且能夠排除非清洗不干凈所至，那么可以說該被檢平晶屬磨損非常嚴重了，我們曾經(jīng)檢過這樣的盲樣，其平面度差的非常多，估計是考核單位用一定的技術手段進行了非正常的加工。平面平晶的正常使用磨損一般不會如此嚴重，所以也應該在清洗，擦拭等方面找一下原因。
在用等厚干涉儀檢平晶的時候，盡量不要用手直接接觸平晶進行調整，如果要在平晶某一位置加壓，可用竹鑷子加壓，確需用手接觸平晶進行調整時，必須帶手套，并盡量使接觸平晶的時間縮短。調整干涉條紋為3或5條，可以用你講的來回移動（類似于研合），也可以通過調整標準、被檢平晶間的間隙角度來進行調整。JJG28-2000平晶規(guī)程對檢定溫度，平衡溫度及溫度變化規(guī)定是比較嚴格的。由于被檢平晶是非金屬體，熱傳導比較慢，局部受熱會引起較大的局部變形，這些都是在檢定工作中需要嚴格注意的。

作者: qc02071402 時間: 2010-9-5 20:56
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