標(biāo)題: ASTM F 1996-2006 薄膜開(kāi)關(guān)電路系統(tǒng)銀遷移的試驗(yàn)方法 [打印本頁(yè)] 作者: 兌水 時(shí)間: 2009-12-4 18:22 標(biāo)題: ASTM F 1996-2006 薄膜開(kāi)關(guān)電路系統(tǒng)銀遷移的試驗(yàn)方法 F1996-01 Standard Test Method for Silver Migration for Membrane Switch Circuitry