標(biāo)題: ASTM F 1467-1999 微電子裝置的電離輻射效應(yīng)試驗中X射線測試... [打印本頁] 作者: 兌水 時間: 2009-11-30 21:46 標(biāo)題: ASTM F 1467-1999 微電子裝置的電離輻射效應(yīng)試驗中X射線測試... F1467-99 Standard Guide for Use of an X-Ray Tester ([approximate]10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits