標(biāo)題: ASTM F 1467-1999 微電子裝置的電離輻射效應(yīng)試驗(yàn)中X射線測(cè)試... [打印本頁(yè)] 作者: 兌水 時(shí)間: 2009-11-30 21:46 標(biāo)題: ASTM F 1467-1999 微電子裝置的電離輻射效應(yīng)試驗(yàn)中X射線測(cè)試... F1467-99 Standard Guide for Use of an X-Ray Tester ([approximate]10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits