標(biāo)題: ASTM F 1261M-1996 薄膜金屬直線平均電寬度測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 [打印本頁(yè)] 作者: 兌水 時(shí)間: 2009-11-30 10:36 標(biāo)題: ASTM F 1261M-1996 薄膜金屬直線平均電寬度測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 F1261M-96(2003) Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]