標題: ASTM F 1192-2000 半導體器件的重離子照射引起的單事件現(xiàn)象測... [打印本頁] 作者: 兌水 時間: 2009-11-29 15:53 標題: ASTM F 1192-2000 半導體器件的重離子照射引起的單事件現(xiàn)象測... F1192-00 Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices